中 国 无 损 检 测 门 户 网
技术参数 测量 分子尺寸, 分子量, 颗粒粒度, Zeta 电位, 蛋白质迁移率...[详细]
一、技术背景 随着工业的发展，大直径厚壁承压设备的日益增加，传统的射线检测已无法...[详细]
我厂开发的DY450 4.5 黑白密度计，是国内采用电脑高新技术的优质产品。它具...[详细]
概述： HCT350 采用了磁性或者涡流测厚方法 可测量磁性金属基体上非磁性覆盖...[详细]
本胶片为明胶卤化银乳剂双面涂布于淡蓝色（或无色）透明聚脂片基上，配合铅箔增感屏供...[详细]
技术参数 NIRS DA 1650是一款基于漫反射技术的二极管阵列型近红外分析仪...[详细]
