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4.1 概述
4.2 测试时试件的支承与耦合
1) 如试件质量在5kg以上，则无需支承。
2) 质量在2至5kg的试件，有悬伸部分的试件及薄壁试件，测试时，应使用质量大于5kg的物体牢固地将其支承，以免冲击力引起试件的弯曲变形和移动。
3) 质量小于2kg的试件，应使其与大于5kg的支承体紧密耦合，试件耦合面与支承体表面应平整、光滑，且没有多余耦合剂，测试方向必须垂直于耦合面。
4) 试件质量不应小于0.1kg，最小厚度不小于5mm，硬化层深度大于0.8mm。
5) 夹具夹紧而且应垂直于测试方向。
6) 当试件为大面积板材、长杆、弯曲工件时，即使质量、厚度较大，仍有可能引起试件变形和失稳，导致测值不准，故在测试点的背面应加固或支撑。
7) 试件本身磁性应小于30高斯。
4.3 测试内外圆柱和内外球面时支承环的选择
当被测表面曲率半径小于30mm(D、DC、D+15、C、E、DL型冲击装置)和曲率半径小于50mm(G型冲击装置)的试件在测试时应使用随机配带的小支承环测试。
为方便各种异型曲面的测试，对D、DC、D+15、C、E型冲击装置，也可另外购买我公司的异型支承环，以获得最佳测试条件。
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