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⒈ 涂层测厚仪的零点校准
a． 在基体上进行一次量测，仪器显示＜×.×μm＞。
b． 按一下“ON/C”键，屏显＜0.00μm＞即完成零点校准。
c． 要准确地校准零点，须重复上述a、b 以获得基体量测值小于1μm，这样有利于提高量测精度。零点校准完成后就可进行量测了。
⒉ 涂层测厚仪的二点校准
a． 先校零点（见上）。
b． 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次量测，屏幕显示＜×××μm＞。
c． 用▲或▼键修正读数，使其达到标准片上的标称值。校准已完成，可以开始量测了。
注意：即使显示结果与标准片值符合，按▲、▼键也是必不可少的，例如按一次▲键一次▼键。如欲较准确地进行二点校准，可重复b、c 过程，以提高校准的精度，减少偶然误差。
⒊ 涂层测厚仪在喷沙表面上校准
喷沙表面的特性导致了量测值大大偏离真值，其覆盖层厚度大致可用下面的方法确定
a． 仪器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校准好。
b． 在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面量测10 次左右，得到平均值Mo。
c． 然后，在已涂覆的表面上量测10 次得到平均值Mm。
d． （Mm—Mo）±S 即是覆盖层厚度。其中S（标准偏差）是SMm 和SMo 中较大的一个。
⒋ T涂层测厚仪的 基本校准
在下述情况下，改变基本校准是有必要的：
──测头顶端被磨损
──测头修理后
──特殊的用途
在量测中，如果误差明显地超出给定范围，则应对测头的特性重新进行校准，称为基本校准。通过输入6 个校准值（一个零值和5 个厚度值）可重新校准测头。
涂层测厚仪基本校准操作方法如下：
a． 在仪器关闭状态下按住▼键再按ON/C 键开机，随着一声鸣响即进入基本校准方式。屏幕显示：B—Calibrate
b． 先校零值（见零点校准）。可连续重复多次，以获得一个多次校准的平均值，这样可提高校准的准确性。
c． 使用标准片，按厚度增加的顺序做五个厚度的校准（见二点校准中的b、c）。每个厚度应至少是上一个厚度的1.6 倍以上，理想的情况是2倍。例如：50、100、200、400、800μm。蕞大值应接近、但低于测头的蕞大量测范围。
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