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一、 校准标准片（包括箔和基体）
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。
⒈ 校准箔
对本仪器“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。“箔”有利于曲面上的
校准。
⒉ 有覆盖层的标准片
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于本仪
器，覆盖层应是非磁性的。
二、 基体
为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的
读数进行比较。
⒉ 如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准：
1) 在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准；
2) 用一足够厚度的，电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。
⒊ 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。
三、 校准方法
本仪器有两种测量中使用的校准方法，零点校准；二点校准；还有一种针对测
头的基本校准。
⒈ 零点校准
a． 在基体上进行一次测量，仪器显示＜×.×µm＞。
b． 按一下“ON/C”键，屏显＜0.00µm＞即完成零点校准。
c． 要准确地校准零点，须重复上述a、b以获得基体测量值小于1µm，这样有利于提高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。
⒉ 二点校准
a． 先校零点（见上）。
b． 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量，屏幕显示＜×××µm＞。
c． 用s或t键修正读数，使其达到标准片上的标称值。校准已完成，可以开始测量了。
注意：即使显示结果与标准片值符合，按s、t键也是必不可少的，例如按一次s键一次t键。
如欲较准确地进行二点校准，可重复b、c过程，以提高校准的精度，
减少偶然误差。
⒊ 在喷沙表面上校准
喷沙表面的特性导致了测量值大大偏离真值，其覆盖层厚度大致可用下面
的方法确定
a． 仪器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校准好。
b． 在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面测量10次左右，得到平均值Mo。
c． 然后，在已涂覆的表面上测量10次得到平均值Mm。
d． （Mm—Mo）±S即是覆盖层厚度。其中S（标准偏差）是SMm和SMo中较大的一个。
⒋ 仪器的基本校准
在下述情况下，改变基本校准是有必要的：
──测头顶端被磨损
──测头修理后
──特殊的用途
在测量中，如果误差明显地超出给定范围，则应对测头的特性重新进行校
准，称为基本校准。通过输入6个校准值（一个零值和5个厚度值）可重新校准测头。
基本校准操作方法如下：
a． 在仪器关闭状态下按住t键再按ON/C键开机，随着一声鸣响即进入基本校准方式。屏幕显示如下：
b． 先校零值（见零点校准）。可连续重复多次，以获得一个多次校准的平均值，这样可提高校准的准确性。
c． 使用标准片，按厚度增加的顺序做五个厚度的校准（见二点校准中的b、c）。每个厚度应至少是上一个厚度的1.6倍以上，理想的情况是2倍。例如：50、100、200、400、800µm。较大值应接近、但低于测头的较大测量范围。
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