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测定镀层厚度的方法很多，根据镀层是否因测试而破坏可分为无损法和破坏法。破坏法包括：溶解法、液流法、点滴法、库仑法（电量法）、金相显微镜法、轮廓仪法、干涉显微镜法等。无损法包括：重量法、磁性法、涡流法、!射线反射法和 ! 射线荧光法、双光束显微镜法、机械量具法等。下面分别介绍各种方法。
本方法不是测定镀层的局部厚度，而是测定整个镀层的平均厚度。测量误差一般小于5%。但是，在基体和镀层含有相同的金属时，误差增大，不易测准。
测定时，将试样放入适当的溶液中浸泡，使镀层或基体金属溶解，然后比较溶解前后试样的重量，来测定镀层质量。或者待镀层溶解完毕后，用化学分析法测定镀层的质量。根据质量、密度和试样面积，计算出试样上镀层的平均厚度。
1、试样的准备
试样溶解前用有机溶剂脱脂。然后用清水洗净、再用酒精脱水并干燥，保存在干燥器中以备称重。
2、试验溶液
溶解法测厚所用的试验溶液见表7-2-1。所用试剂应为化学纯，溶液均用蒸馏水配制，它可多次使用。
①见GB 9799-99 ②见GB 12599-90 ③见GB 12307.1-90
3、平均厚度的计算
镀层平均厚度可按下式计算
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式中：
h———镀层的平均厚度（μm:）；
m1———镀层未溶解时的试样质量（g）；
m2———镀层溶解后的试样质量（g）；
S———试样上镀层的表面积（cm2）；
d———镀层金属的密度（g/cm3）。
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