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磁性测厚法比较权威的一种介绍

来源: 作者:中国无损检测 人气: 发布时间:2024-09-21
摘要:磁性测厚法是利用电度原理测定磁性基体上元磁性涂层厚度的方法 。 该法适用于磁性基体上的非産性涂层或化学保护层的厚度测量。 该法在测量前应在标样上对仪器进行系统调节,以确保其测量精度 。 也可在无涂层基体上送行调节,此时应对标样和无涂层基体进行置零
磁性测厚法是利用电度原理测定磁性基体上元磁性涂层厚度的方法 。 该法适用于磁性基体上的非産性涂层或化学保护层的厚度测量
该法在测量前应在标样上对仪器进行系统调节,以确保其测量精度 。 也可在无涂层基体上送行调节,此时应对标样和无涂层基体进行置零比较,其厚度差称为修正值,供需双方统一试样、统一方法,从而确定修正值 。 采用磁性法测定法层厚度时,按下述一些惯例进行。
 
注:1、曲面探头与涂层表面的接触为1点,图中用“×”表示;
        2、扁平探头与涂层表面的接触为1面,图中用“○”表示,扁平探头的面积应小于φ 3mm的圆面积。
基准面为1dm²时,无论采用什么型号的仪器以及何种探头测量,均按图所示10点法,在该基准面上做10次测量,取其平均值。
影响测量值的因素:
1、涂层本身某些因素影响,如厚度、电导率和表面粗糙度
2、基体金属本身某些因素影响,如厚度、磁性、曲率、表面粗糙度、机械加工方向和剩磁等;
3、外来因素的影响,如周围的磁场和外来附着物等;
4、测量技巧的影响,如探头压力,探头取向和边缘效应等。
上述各因素的影响应按GB 4956的规定予以排除和校正。
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