涂层测厚技术---磁性法

磁性测量法是利用电磁原理测定磁性基体上无磁性涂层厚度的方法, 该法适用子磁性基体上的非磁性涂层或化学保护层的厚度测量。磁性测厚仪目前国产有 cH_1型、 DHc_1型和 Qcc_A型等多种,,该法在测量前应在标样上对仪器进行系统调节, 以确保其测量精度, 也可在无涂层基体上进行调节, 此时应对标祥和无涂层基体进行置零比较, 其厚度差称为修正值, 供需双方统一试样、统一方法,从而确定修正值,采用磁性法测定涂层厚度时,按下述一 些惯例进行。基准面为1cm2时,最小局部厚度的测量见表所示

基准面为1cm2时最小局部厚度的测量

基准面为1dm2时,无论采用什么型号的仪器以及何种探头进行测量,均技所示10点法, 在该基准面上做10次测量, 取其算术平均值。

影响测量值的因素:

 

(1)涂层本身某些因素的影响,如厚度、导电率和表面粗糙度等,

(2)基体金属本身某些因素的影响,如厚度、磁性、曲率、表面粗糙度、机械加工方向和剩磁等;

(3) 外来因素的影响, 如周围的磁场和外来附者物等

(4) 测量技巧的影响, 如探头压力, 探头取向和边缘效应等。

上述各因素的影响应技 GB4956的规定予以排除和校正。
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