X荧光的知识

EDX设备工作原理是通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光，初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线，也就是我们通常所说的X荧光，X荧光被探测器探测到后经放大，数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。特征X射线，其由被测量物质的基本组成元素决定，元素不同，其特征X射线能量不同XRF RoHS测金属的结果与有些权威机构是有差异的，光谱分析为表面物理分析，比如化学溶样分析方法，两种测量方法之间的差别。金属标样自身的误差。金属样品表面有镀层，这些都会导致差异。X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量，而对其的化合状态无法判别，所以，六价铬、PBB和PBDE的含量无法检测。

 

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