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一、发射电路部分
1.触发波重复频率太高或闸流管(可控硅)的负载电阻R太大，使发射电路中电容C不能充电至电源电压E。
2.闸流管或可控硅导电时，内阻太大。
3.电源电压E过低。
4.电容C漏电。
5.谐振式发射电路中，谐振频率与探头的自然频率偏离太大。
二、接收电路部分
1.电子管或晶体管工作点(偏流或偏压)不在最佳点。
2.电子管或晶体管衰老。
3.调谐回路调乱，放大频率与发射频率不一致。
4.电源电压低(滤波电容漏电)。
三、探头部分
1.晶片的灵敏度低(发射及接收的灵敏度的乘积低)。
2.保护膜片与晶片之间的油层流失(有的探头保护膜与晶片直接粘合)。
3.晶片的银层脱落。
4.晶片的自然频率与发射频率或放大频率不一致。
5.吸收块阻尼太大。
6.探头在超过其居里温度的高温工作物上探测效率降低。
7.晶片的阻抗与探头引线的阻抗不匹配(如用低阻抗的电缆线连接高阻抗的石英晶片)。
8.探头线及插头座接触不良。
9.保护膜片磨损。
四、示波管部分
1.偏转灵敏度低。
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