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超声波探伤中缺陷位置的测定是确定缺陷在工件中的位置，简称定位。一般可根据示波屏上缺陷波的水平刻度值与扫描速度来对缺陷定位。 一、纵波(直探头)探伤时缺陷定位 仪器按1:n调节纵波扫描速度，缺陷波前沿所对的水平刻度值为τf、无损检测资源网测缺陷至探头的距隔χf为： χf=nτf (4.7) 若探头波束轴线不偏离，则缺陷正位于探头中心轴线上。 例如用纵波直探头探伤某工件，仪器按l:2调节纵波扫描速度，探伤中示波屏上水平刻 度值70处出现一缺陷波，那么此缺陷至探头的距离χf： χf=nτf＝2×70＝140(mm) 二、表面波探伤时缺陷定位 表面波探伤时，缺陷位置的确定方法基本同纵波。只是缺陷位于工件表面，并正对探头中心轴线。 例如表面波探伤某工件，仪器按1:1调节表面波扫描速度。探伤中在示波屏水平刻度60处出现一缺陷波，则此缺陷至探头前沿距离χf为： χf=nτf＝1×60＝60(mm) 三、横波探伤平面时缺陷定位 横波斜探头探伤平面时，波束轴线在探测两处发生折射，工件中缺陷的位置由探头的折射角和声程确定或由缺陷的水平和垂直方向的投影来确定。由于横波扫描速度可按声程、水平、深度来调节，因此缺陷定位的方法也不一样。下面分别加以介绍。 1.按声程调节扫描速度时 仪器按声程1:n调节横波扫描速度。缺陷波水平刻度为τf。 一次波探伤时，如图4.19(a)，缺陷至入射点的声程χf=nτf，如果忽略横线孔直径，则缺陷在工件中的水平距离lf和深度df为： |
