(1)双壁双影法透照时,由于射源侧焊缝比胶片侧焊缝离开胶片的距离相差一个管子直径,故射线源尺寸的几何影响较大,使几何模糊度增加,小缺陷对比度降低,为减小射源尺寸对几何模糊度和对比度的影响,无损检测资源网可选择焦点尺寸小的射线源,适当增大焦距。
(2)透照小口径管时射线的穿透厚度自中心向两端变化很大,易导致底片上中心部位黑度过大,边缘部位黑度过小,为减少被检区域不同部位的黑度差,宜适当提高射线能量,超声波探伤仪 http://www.chaoshengbotanshangyi.org 采用“高电压,短时间”的透照工艺。
(3)由于管子直径较小,散射线引起“边蚀”效应比较严重。相应的措施是在射线机窗口处加滤板,或采用铅罩屏蔽焊缝以外部分,以减少“边蚀”。
(4)双壁双影透照时,焊缝被倾斜投影到胶片上,缺陷影像会发生畸变。为减少畸变,应控制透照角度和椭圆开口间距,间距一般为3~10mm,最大不超过15mm。
|