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测量内容为：
S声程
H(%)闸门范围内回波高度的相对值(相对于屏高)
h闸门范围内回波高度的绝对值(单位是像素)
d缺陷深度
D(%缺陷深度相对值(相对于工件厚度)
P缺陷距探头前沿的水平距离
其中：
s： 表示声程;
d： 表示缺陷的深度;
t：表示工件的厚度;
x：表示超声源到探头前沿的距离;
p：表示缺陷距离探头前沿的水平距离;
D: 是缺陷深度相对值，它是按照下面的的发法得到的
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