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图像分辨率测试卡的结构与标准

来源: 作者:ndt 人气: 发布时间:2024-12-22
摘要:摘要:分辨率测试卡是客观描述射线实时成像检测系统分辨率和实时成像检测图像分辨率(包括射线照相底片分辨率)质量指标的重要器具,本文概述了图像分辨率测试卡的结构和正在制订的《无损检测 射线透视检测用分辨率测试卡》行业标准进展情况。 1 前言 射线实
摘要:分辨率测试卡是客观描述射线实时成像检测系统分辨率和实时成像检测图像分辨率(包括射线照相底片分辨率)质量指标的重要器具,本文概述了图像分辨率测试卡的结构和正在制订的《无损检测  射线透视检测用分辨率测试卡》行业标准进展情况。
1 前言
射线实时成像检测系统分辨率和实时成像检测图像分辨率(包括射线照相底片分辨率)是考核成像系统质量和图像成像质量以及照相底片质量的重要指标,也是射线检测设备和检测图像质量验收的重要依据,需要用质量检测器具对它进行客观的测量,这个器具是射线成像用分辨率测试卡,能起到客观描述图像分辨率的作用,避免了人为因素的影响,粗糙度测量仪 http://www.cucaoduceliangyi.com 因此,它能直观地反映图像的分辨率性能指标,是成像检测质量控制的重要器具。分辨率测试卡不仅可用于常规射线照相底片质量和射线实时成像图像质量的检测,也可以用于工业CT、医用CT、医用X光诊断设备的图像分辨率质量检测。用分辨率测试卡可测定X射线成像系统的可视分辨率;增感屏-胶片系统的分辨率;影像传输系统的分辨率(影像增强器、监视器,数字影像的读出和传输系统);测试成像系统的调制传递函数(MTF)。
由于目前国内尚无射线成像检测用分辨率测试卡标准,制约了射线成像检测用分辨率测试卡的生产和发展,国内一些使用单位不得不花昂贵的费用从国外进口射线成像检测用分辨率测试卡。为了推动我国射线成像检测用分辨率测试卡的发展,很有必要尽快制定“射线透视检测用分辨率测试 卡”标准。
2004年底由清远市盈泉钢制品有限公司、军事医学科学院放射医学研究所、北京博创科技发展有限公司、南京捷达源科技有限公司共同提出了《无损检测  射线透视检测用分辨率测试卡》机械行业推荐性标准项目任务书,很快就得到无损检测标准化技术归口部门“全国无损检测标准化技术委员会”的同意立项的批复,并列入委员会2005年的工作计划,要求在编制组在2006年前完成标准的报批工作。
2 有关分辨辨率的定义和术语
2.1 分辨率(resolution):图像中恰好能分开的细节之间的距离;通常用单位宽度范围内可识别的线对数表示,单位是每毫米线对数(LP/mm) 。
2.2 调制传递函数(modulation transfer function  MTF):描绘输出信息量与输入信息量变化关系的响应函数,是成像系统对输入信息的传递和转换功能。主要反映的是影像信息的再现率。
2.3 线对(line pair):对由一根线条和一个间距组成,且间距的宽度等于线条的宽度,以一毫米宽度范围内的线对数表示。
2.4 空间频率(spatial frequency):原意为亮度在空间中呈现正弦波变化的单色光,在单位长度内亮度变化的周期数即为其空间频率。在成像系统定义为空间分辨率:单位长度内的线对数。单位是(Lp/mm或Lp/cm)。有时候在成像系统中将为空间分辨率简称为分辨率。
2.5 铅当量:用铅金属作为基准物质时,以铅的厚度来表示其他金属的衰减当量。
3   分辨率测试卡的结构
3.1  吸收体材料
分辨率测试卡的射线吸收体材料用铅箔或者与铅当量相当的金属箔。
3.2 铅质栅条与线对
在一定宽度内,均匀地排列着若干条宽度相等、长度为20mm、厚度为0.05~0.1mm的铅箔栅条,栅条的间距等于栅条的宽度。一条栅条和与它相邻的一个间距构成一个线对,线对用LP表示。铅箔栅条采用激光技术(或其它技术)刻制而成。
3.3 分辨率测试卡的构成
 
在一定宽度内,均匀地排列着若干组线对组,相邻两组的距离为3mm;若干组线对数按一定则(等比数列或等差数列)顺序排列,各组线对的栅条紧夹在两块厚度为1mm的有机玻璃板之间,如图2 所示。线对组成及图形分布结构按标准的规定。
 
4  分辨率测试卡的测试原理
4.1 将分辨率测试卡紧贴在工件上(或胶片暗袋或)离射线源较近一侧的表面上,按照一定的工艺条件进行透照,经暗室处理后在底片上能够观察到几组黑白相间的栅条影象,其中观察到栅条刚好分离的一组线对,无损检测资源网则该组线对所对应的线对数即为底片(或照相系统)的分辩率。
4.2 将分辨率测试卡紧贴在工件上离射线源较近一侧的表面上(或图象增强器输入屏表面中心区域),按照一定的工艺条件进行透照,在显示器上能够观察到几组黑白相间的栅条影象,其中观察到栅条刚好分离的一组线对,则该组线对所对应的线对数即为图像(或成像系统)的分辩率。
5 《无损检测  射线透视检测用分辨率测试卡》稿简介
编写组在2005年初编写出《无损检测  射线透视检测用分辨率测试卡》初稿,经过讨论和两次修改,形成了第三稿,再次现将《无损检测  射线透视检测用分辨率测试卡》稿简介如下。
5.1  适用范围和主要技术内容
范围:本标准规定了射线透视检测用分辨率测试卡的分类、技术要求和检验方法。本标准适用于分辨率测试卡的型式检验和批量检验。本标准也可作为用户订货的验收依据。
标准有前言和引言,主要技术内容:1.范围,2.规范性引用文件,3.术语和定义,4.分类,5.技术要求,6.检验方法,7.检验规则,8.标记,9.标志和标签,10.包装、运输和贮存
5.2 前言
在标准编写前,编写组搜集了国外一些发达国家如日本、德国及国际标准化组织的有关标准,经过对照比较, 我们认为日本JIS Z 4916-1997《X射线用分辨率测试卡》较适合我国现有的使用习惯,因此,在前言中表明,“本标准主要参考了JIS Z 4916-1997《X线用解像力テストチャト》(日文版)”。
在前言中表明,“请注意本标准的某些内容有可能涉及专利。本标准的发布机构不应承担识别这些专利的责任。”
在前言中还表明,在前言中还表明,“本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)归口。”
5.3 引言
在引言中表明了分辨率测试卡的作用和用途。
5.4 射线吸收材料
射线吸收材料多为重金属,可以用铅箔或钨箔,标准引进了铅当量的概念,所以就不再提到钨箔,表述为“射线吸收材料用铅箔或与铅当量相当的金属箔。”
5.5 分类
在分类这章中, 将分辨率测试卡分为三类,
5.5.1  线对组数按等差数列排列,见表1 ,这类线对数在射线无损探伤设备的系统和图像分辨率质量检测中常用到。
表1 分辨率测试卡的种类及规格(按等差数列排列)
序号 类型 图形的线对组成 公差 外形尺寸(长×宽)
1 LP0.8-2.0Pb 0.8…2.0(LP/mm) 0.2 90×55mm
2 LP0.60-3.4 Pb 1.0…10.0(LP/mm) 0.2 85×75mm
5.5.2  线对组数按等差数列排列,见表2 ,这类线对数在工业CT、医用CT、医用X光诊断设备的系统和图像分辨率质量检测中常用到。
表2 分辨率测试卡的种类及规格(按等比数列排列)
序号 类型 图形的线对组成 公比
1 LP0.5-5 Pb 0.5…5.0(LP/mm) 1.122
2 LP1.0-10 Pb 1.0…10.0(LP/mm) 1.122
3 PLP0.5-5.0 Pb 0.5…5.0(LP/mm) 1.122
4 PLP1.0-10 Pb 1.0…10.0(LP/mm) 1.122
 
5.5.3  综合测试卡
综合测试卡构成见表3 ,综合测试卡在射线探伤机、工业CT、医用CT、医用X光诊断设备安装、调试中常用到。
表3  综合分辨率测试卡的种类及规格
序号 类型 图形的线对组成 外形尺寸
1 综合测试卡A 0.8…1.8(LP/mm) Φ=240mm
2 综合测试卡B 0.8…3.0(LP/mm) Φ=240mm
3 星形测试卡 0.5…5.0(LP/mm) Φ=90mm
 
综合测试卡可用于检测图像的分辨率、图像畸变程度、常用灰度等级、亮度、对比度。星形测试卡除上述功能外,除可以用于测量射线源的焦点尺寸。 这类测试卡是射线机、工业CT、医用CT、医用X光诊断设备的安装、调试、检测、维修、保养必不可少的工具。
5.6 检验方法
5.6.1铅箔厚度试验
将测试卡与事先测定厚度的铅箔并列放置,用X线摄影(摄影条件可选择适当的管电压一般为80kVp,调节mAs值时胶片铅箔部分的密度为0.7左右。比较胶片的黑化程度,调整测试卡的厚度。
5.6.2 图形大小试验
用X线放大摄影(放大倍数≥10)或直接用放大镜观察,无损检测资源网看铅/钨箔的线条间隔和线条的几何形状是否在规定的容许误差范围之内。
5.6.3  对比度试验
选择X线放大摄影用的X线管的焦点尺寸≤1.5mm,焦片距≥1.5m,选择合适的摄影条件使X线胶片的铅箔部分的密度值小于0.3,没有铅箔部分的密度为1.0。
5.7 检验规则
规定了组批规则和型式检验规则及出厂检验规则。
分辨率测试卡的型式检验应由独立实验室进行。独立实验室应出具一份执行本标准的检验报告。
应对每批线型像质计产品进行出厂检验,并出具一份执行本标准的检验证书。
5.8 其他
标准还规定了标记、标志和标签、包装、运输和贮存等内容。
6  标准编制的进展情况
目前已完成第六稿,在全国无损检测标准化技术委员会网上征求意见,争取明年中期完成报批手续和发布实施。

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