无损检测人员技术资格高级培训考核射线检测问答题_射线

1 射线可分为哪几类，对于工业探伤的射线有哪几种？

答：射线可分为以下几类：

(1)Χ射线和γ射线。它们都是波长很短的电磁波，按波粒二相性观点，也可以看作是能量很高的光子流。Χ射线是高速运动的电子撞击金属产生的；γ射线是放射性同位素在γ衰变过程中从原子核内发出的。

(2)电子射线和β射线。它们都是高速电子流。电子射线是通过加速器加速电子得到的；β射线是放射性同位素在β衰变过程中从原子核内发出的。

(3)质子射线、氘核射线和α射线。它们都是带正电的粒子流，质子是普通氢原子核1H1；氘核是氢同位素氘2H1的原子核，由1个质子与1个中子构成；α粒子是氢原子核4He2，由2个质子与2个中子构成。质子射线与氘核射线可利用回旋加速器或静电加速器得到，α射线是放射性同位素在α衰变过程中从原子核内发出的。

(4)中子射线。它是高速中子流，可从原子反应堆中获得，电火花检漏仪 http://www.dianhuohuajianlouyi.com 也可通过加速器获得，或从放射性同位素锎-252中获得。

目前用于探伤的主要是Χ射线、γ射线和中子射线。其中Χ射线和γ射线广泛用于工业探伤，中子射线用于特种检验。

2 什么叫连续Χ射线的有效能量？为什么连续Χ射线穿透物质后有效能量会增大？

答：如果某一单能射线的吸收系数与连续Χ射线在特定厚度范围内平均吸收系数相等，便可用此单能射线的能量来表示连续Χ射线的平均能量，称作有效能量。连续Χ射线包含有能量不同的光子，在穿透物质过程中，能量较低的光子较容易被物质吸收，因此，在射线透过物质后，不同能量射线所占的强度比率发生变化，低能量射线所占比率减少，从而使透过射线的平均能量或有效能量增大。

3 放射性同位素衰变过程中的辐射有哪几种形式？

答：放射性同位素的衰变辐射主要有以下几种形式：(1)仅辐射α粒子,(2)仅辐射β粒子,(3)既辐射α粒子又辐射γ射线,(4)既辐射β粒子又辐射γ射线

4 射线防护有哪几种基本方法？每种防护方法的基本原理是什么？

[提示]：射线防护方法有三种，即距离防护、时间防护、屏蔽防护，距离防护--射线剂量率与离射线源的距离平方成反比，因此尽量在距离射线源远的地方从事射线探伤工作；时间防护--人体接收射线剂量与时间成正比，尽量缩短接收时间以减少对人体的危害；屏蔽防护--射线穿过屏蔽材料时，其能量会衰减，尽量在有安全屏蔽的条件下进行工作

5 影响照相质量的散射线是如何产生的？

答：射线穿过物质时，与物质发生各种相互作用，其结果是除了一部分直接前进的透射线外，还有向各个方向射出的散乱射线以及光电子，反跳电子等。光电子和反跳电子穿透力极弱，大多数被物体自身吸收，即使射到物体外，也很容易被空气吸收，对探伤质量不产生影响。散乱射线中的一部分是由光电效应引发的荧光X射线，这部分射线能量远小于透射线。例如铁的Kβ1荧光X射线能量约7keV，很容易被物体和增感屏吸收，对探伤质量也不产生什么影响。因此影响探伤质量的散射线主要是由康普顿效应和汤姆逊效应产生的，在射线能量很低（小于50keV）范围内，散射线主要由于汤姆逊效应产生，在射线能量较高范围内，散射线主要由康普顿效应产生。

6 简述Χ射线管的结构和各部分作用

答：Χ射线管的基本结构包括：

阴极--灯丝：发射电子；阴极头：灯丝支座，聚焦电子

阳极--靶：遏制电子，发出X射线；阳极体：支承靶，传递靶热量；阳极罩：吸收二次电子，减少管壁电荷，提高工作稳定性

管壳--连接两极，保持真空度

7 绘出能工作的X射线机的最基本电路图,并标明各部分名称答:如下图所示。

8 用于X射线检测用的X射线管有哪些类型和种类？

答：就焦点大小区分，可分为大焦点、小焦点和微焦点；就结构形式区分有玻璃壳管、金属陶瓷管和波纹陶瓷管；就辐射形式区分有定向曝光和周向曝光（有平靶和锥靶两种），软X射线管，棒阳极等

9 试比较射线检测与超声波检测两种方法的适用范围和局限性

[提示]：应从两种方法的灵敏度高低、检测厚度范围、易发现的缺陷形状以及安全防护和经济性等方面进行比较

10 何谓互易定律失效？它对射线照相有何影响？

答：互易定律是光化学反应的一条定律，该定律指出，决定光化学反应产物质量的条件，只与总曝光量相关，即取决于照度和时间的乘积，而与这两个因素的单独作用无关，由于它指出了时间和照度的互易关系，所以称为互易定律，如果与这一定律结论有偏离，则称为互易定律失效。如果不考虑光解银对感光乳剂显影的引发作用的差异，互易定律可引伸为显影黑度只与总曝光量有关，而与照度和时间分别无关。在射线照相中，当采用铅箔增感和无增感时，遵守互易定律。设产生一定显影黑度的曝光量E=I•t，当射线强度I和时间t相应变化时，只要两者乘积E值不变，底片黑度不变。当采用荧光增感时，互易定律将会失效。I与t发生变化时，尽管I与t的乘积不变，底片黑度仍会改变。用公式描述保证底片黑度不变的前提下，曝光量E与射线强度I，时间t的关系，其形式为E=I•tp（p≠1）。互易定律是利用曝光因子公式和平方反比定律修正透照参数的基础，如果互易定律失效，则不能利用曝光因子和平方反比定律修正透照参数，这将使透照参数的选择复杂化。

11 何谓几何不清晰度？其主要影响因素有哪些？

答：由于射线源都具有一定尺寸，所以照相时工件轮廓或缺陷边缘都会在底片上产生半影。这个半影宽度便是几何不清晰度Ug,缺陷的几何不清晰度Ug值计算公式为：Ug=db/(F-b),式中：d--射源尺寸；F--焦距；b--缺陷至胶片距离。技术标准中规定的几何不清晰度，通常是指透照中心部位的最大几何不清晰度，电火花检漏仪 http://www.dianhuohuajianlouyi.com 计算公式为：Ugmax=dL2/L1 ,式中：L1--射线至工件表面距离；L2--工件表面至胶片距离；d--射源公称有效焦点尺寸。由以上公式可知，Ug值与射源尺寸和工件厚度或工件表面至胶片距离成正比，与射源至工件表面距离或焦距成反比。

12 绘图说明胶片特性曲线由哪五部分组成？底片黑度应控制在胶片特性曲线的哪个区域？为什么要控制在这个区域？

答：AB-迟钝区；BC-感光不足区；CD-正常（适量）感光区；DE-过感区；EF-负感区。底片黑度应限制在正常感光区内，因为在这个区域内底片的对比度大（曝光量有小的差异就能产生较大的黑度差），灵敏度高。

13 散乱射线是怎样产生的？它对底片有何影响？透照时如何遮挡？

答：散乱射线是由射线与物质作用而产生的，如果来自工件内部，处于胶片前方，称为前方散射线，射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等，均会产生散乱射线，由于它来自胶片背面，故称背面散乱射线（包括侧壁散乱射线）；散乱射线使底片产生附加黑度，严重时全部变黑，影响底片的对比度和清晰度，降低底片的灵敏度；遮挡的方法有：采用限光器（准直器）或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照的部位，从而减少散乱射线对底片的影响；采用金属增感屏，前屏吸收一部分前方散乱射线，后屏减少背面散乱射线的影响；透照较厚工件时，暗盒后面用薄铅板（铅垫板）遮挡背面散乱射线；被透照工件周围尽可能保障有一定的空间，避免存放与透照无关的杂物以避免侧壁散乱射线影响。

14 高能X射线设备的主要原理是什么？

答：利用超高压、强磁场、微波等技术对射线管的电子进行加速，从而获得能量强大的电子束，轰击靶面而获得高能X射线

15 X射线管焦点的尺寸大小与什么有关？

答：主要取决于X射线管阴极灯丝的形状和大小，使用的管电压和管电流对焦点大小也有一定影响。

16 用于狭窄部位摄片的X射线管阳极是什么样的？答：棒状阳极

17 辐射场限制区是如何测量的？

答：X射线机的辐射场尺寸是指从X射线管焦点上发出的X射线在规定距离d处，垂直于输出窗轴线的平面上，X射线辐射场的大小可用曝光拍片法测量，胶片取得足够大，可将辐射场的限制区拍摄下来，以底片最大黑度降低20%构成的边界为辐射场的尺寸

18 中子探伤设备包括哪几部分？答：中子源、慢化剂、准直器和像探测器

19 什么是软射线技术？

答：使用软X射线管，产生的X射线束直接从铍窗口射出，避免了普通X射线管的固有滤波，能基本保持原有波长且能量较低的X射线，称为软X射线，利用其进行透照的技术，即是软射线技术，多用于人体软组织、轻金属和非金属的射线检测

20 选购X光机时，应考虑哪些条件？

答：应考虑以下条件：①首先要选择穿透能力能满足工作厚度的要求；②能量相同时，尽量选小焦点的；③要考虑工作量的大小，连续生产还是断续生产；④要考虑工件的材质和形状，即是有色金属还是重金属，轴类、板材还是筒类等去选择相应的X射线探伤机种。

21 X射线机的常见故障有哪些？

答：常见故障有：①X 射线管松动；②保险丝溶断；③电流表没指示或指示数很小；④电缆断线；⑤自耦变压器老化、高压指数达不到额定值；⑥发生器保护罩漏油，高压跳火；⑦X射线管失效；⑧阳极过热，毫安表针摆动较严重；⑨马达不转，发生器局部发热；⑩X射线管灯丝预热时间不够，而使灯丝老化损坏。

22 绝缘油绝缘强度低劣时有何现象？

答：绝缘油绝缘强度低时，送高压后，电流值不规则的波动，一般不至达到跳闸程度。

23 什么是绝缘油的绝缘强度？

答：油样在油杯内2.5mm间隙时的击穿电压的多次平均值，就是该油的绝缘强度。

24 X射线机要求什么样的绝缘油，有哪些具体要求？

答：X射线机多用45#变压器油、绝缘强度要在50kv以上，还要求有燃点高、凝固点低、挥发性低、粘度适中等。

25 经常熔断电源保险丝的故障原因可能有哪些?

答:X射线管真空度不良,绝缘油里有气泡或绝缘强度降低,高压电路元件损坏,造成对地放电或短路,调压器等低压电路元件绝缘降低,造成对地短路,电源接错等

26 高压可接通,但无管电流的故障原因可能有哪些?

答:X射线管或高压整流管灯丝断或接触不良,高压变压器断线或接触不良,高压电缆与插座接触不良,毫安表损坏无指示,毫安调节器断路等

27 试推导射线照相主因对比度（物件对比度）的表达式

答：已知宽束射线透过厚度为T的试件,其透过射线强度Ip=(1+n)Ioe-μT --(1),当试件中某一局部区域厚度有变化,射线穿过的厚度差为△T,该区域透过射线的强度也会发生变化,其强度增量为△I,则有：

△I=Ioe-μ(T-△T)-Ioe-μT = Ioe-μT(eμ△T-1) --(2),(2)÷(1)得：

△I/Ip= [Ioe-μT(eμ△T-1)]/[(1+n)Ioe-μT]= (eμ△T-1)/(1+n)--(3),而eμ△T可展为级数

eμ△T=1+μ△T+(μ△T)2/2！……+(μ△T)n/n！…… --(4),近似取级数前两项代入(3),得：

△I/Ip=[(1+μ△T)-1]/(1+n)=μ△T/(1+n) --(5)

28 写出透照厚度差为△T的平板底片对比度公式和象质计金属丝底片对比度公式，说明公式中各符号的含义，并指出两个公式的差异

答：厚度差为△T的平板底片对比度公式：△D= -0.434μpγ△T/(1+n) --(1)

象质计金属丝底片对比度公式：△D= -0.434μpγσ•d/(1+n) --(2),式中：μp--考虑胶片速度系数的射线吸收系数；γ--胶片反差系数；σ--几何修正系数；△T--平板透照厚度差；d--象质计金属丝直径；n--散射比。

两个公式的差别在于几何修正系数σ，由于透度计金属丝直径d远小于焦点尺寸，在一定透照几何条件下，焦点尺寸会影响金属丝影像对比度，所以公式(2)引入σ对底片对比度进行修正。当缺陷尺寸大于焦点尺寸时，焦点尺寸对底片对比度的影响可忽略不计，所以公式(1)中，没有几何修正系数σ

29 透照有焊冠的焊缝应注意哪些事项？

答：（1）由于焊缝焊冠的存在，底片上焊缝部位黑度D1总是小于母材部位黑度D2，照相时应注意保证D1、D2均在标准允许的黑度范围内。（2）由于底片对比度△D随黑度D的增加而增大，无损检测资源网而识别界限对比度△Dmin也随黑度D的增加而增大，因此透照有焊冠焊缝时，通过控制适当的焊缝部位黑度D1和母材部位黑度D2，可使母材部位和焊缝部位能识别的透度计线径相等，此黑度称为有焊冠焊缝透照的最佳黑度。（3）底片对比度随射线有效能量的降低而增大，但另一方面，射线有效能量的降低会使焊缝部位的透射线I1与母材部位的透射线I2的比值大大减小，从而使母材部位的散射线对焊缝部位的影响更严重，其结果是降低了对比度，因此，透照有焊冠焊缝时，焊缝部位的对比度不是单纯地随射线能量的降低而增大，而是在某一线质时，焊缝部位的底片对比度达到最大值。此线质称为有焊冠焊缝透照的最佳线质。

30 指出小口径管对接焊缝射线照相缺陷检出的不利因素，并提出改进措施。

答：小口径管焊缝射线照相采用双壁双影法透照，对缺陷检出的不利因素和改进措施有以下几点：(1)双壁双影法透照时，由于射源侧焊缝比胶片侧焊缝离开胶片的距离相差一个管子直径，故射线源尺寸的几何影响较大，使几何模糊度增加，小缺陷对比度降低，为减小射源尺寸对几何模糊度和对比度的影响，可选择焦点尺寸小的射线源，适当增大焦距。(2)透照小口径管时射线的穿透厚度自中心向两端变化很大，易导致底片上中心部位黑度过大，边缘部位黑度过小，为减少被检区域不同部位的黑度差，宜适当提高射线能量，采用“高电压，短时间”的透照工艺。(3)由于管子直径较小，散射线引起“边蚀”效应比较严重。相应的措施是在射线机窗口处加滤板，或采用铅罩屏蔽焊缝以外部分，以减少“边蚀”。(4)双壁双影透照时，焊缝被倾斜投影到胶片上，缺陷影像会发生畸变。为减少畸变，应控制透照角度和椭圆开口间距，间距一般为3～10mm，最大不超过15mm。

31 试述编写射线检测程序书所应包含的内容？

答：(1)工艺适用范围(试件种类、焊接方法和类型、厚度等)。(2)工艺编制依据(有关规程、规范、标准、设计规定等)。(3)对探伤人员要求(资格、工作经历、学历、视力等)。(4)设备器材选择(射线机、胶片、增感屏、透度计、暗盒、铅字等)。(5)对工件要求(工序、探伤时机、工件表面状况)。(6)探伤技术要求（质量等级、比例、部位、合格级别)。(7)透照方法(源-胶片相对位置、焦距、划线长度、编号方法、透度计、铅字摆放、散射线屏蔽等)。(8)曝光参数(管电压、管电流、曝光时间等)。(9)暗室处理(配方、程序、条件、要求等)。(10)底片评定(像质鉴定、级别评定、返修规定等)。(11)记录报告(种类、内容、签证、存档及发送规定等)。(12)安全管理规定。

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32 散乱射线是怎样产生的？它对底片有何影响？透照时如何遮挡？

33 在一些压力容器安全监察规程中规定对于厚度较大的焊缝在进行射线照相后还要求进行超声波检测复验，这是为什么？

答：各种非破坏检测方法都有其局限性，射线照像随着板厚的增加，发现小缺陷的能力就越来越差，特别是对于线状缺陷，例如轻微的未焊透（熔入不足）及小裂纹等难以发现，而超声波检测对于线状缺陷是敏感的，为提高检测可靠性，保证产品质量，特别是质量要求高的产品，超声波检测可以弥补射线照像检测的不足。

34 图示线路属于何种高压回路？多用于哪些射线机上？

答：这是半波自整流线路，多用于便携式X射线机上

35 射线探伤的组织管理工作主要包括哪几个方面？

[提示]①配备足够完成本单位探伤任务的人员，这些人员需经考试合格并取得资格证书；②配备足够完成本单位探伤任务的设备及器材，加强设备维护，保证设备完好；③制定必要的各项规章制度，如：检测程序书、设备维护、人员培训、检测报告、审核及存档制度等；④储备足够数量的探伤用消耗器材（胶片、增感屏、药品等），并认真验收保管好；⑤监督本单位全体人员各负其责，把好质量关。

36 最新的第二代75Seγ射线源有些什么特点？

答：是在反应堆中激活的具有热稳定性的金属硒化物，焦点呈准球形，和其他射源相比，在相同活度下其焦点尺寸更小，更适用于小焦距曝光、管道爬行器和接触式射线照相，影像几何不清晰度小，是γ射线透照中等厚度（5-40mm钢），获取较高影像质量的一种新型同位素射源，较铱192和钇169源的半衰期长( 118天)，与铱192相比，其发射能谱较软，γ射线照射率常数较小，设定辐射防护禁区较小，对操作者安全等

37 画出曝光曲线的示意图，说明制作条件并简述其用途。

答：曝光曲线是给定X射线机在选定工艺条件下（包括胶片类型、增感方式、显影条件、焦距、底片黑度等）制作的，只有在给定的X射线机和相同的工艺条件下才能使用该曝光曲线。有了实际射线探伤工艺条件下的曝光曲线，在射线探伤时，对于不同厚度的工件就可以根据曝光曲线上的穿透厚度直接求得相应的管电压、管电流和曝光时间，这是非常经济、省时和方便的。

38 以玻壳X射线管为例说明其结构各部分名称及主要作用。

答：玻壳X射线管的内部构造主要包括七个部分，即：铅玻璃罩-保持X射线管内的真空度，吸收软射线；阳极罩-吸收二次电子和软射线；阳极体-支撑阳极靶和散热；阴极头-聚焦电子；灯丝-产生热电子；阳极靶-发射X射线；铍窗-吸收软射线

39 X射线管的种类中，有一种旋转式阳极，它是怎样的？

答：它的阳极是装在一个小的感应电动机轴上，在X射线照射时旋转，这样阳极时刻以“新的靶面”接受电子束的轰击，因此电子束的能量不至于像固定式阳极那样集中于一点，它可把热量散布在阳极的相当大的面积上。由于阳极转动的非常平稳，焦点可以保持形状和位置的稳定。用旋转阳极制成的X射线管不但可以得到很小的焦点，而且可以制成较大的功率，其阳极为一直径约76毫米具有斜边缘的钨盘构成，旋转速度可达到每分钟数千转。

40 X射线硬度对灵敏度有什么影响？

答：X射线的硬度决定于波长，波长越短，硬度越高。X射线检验的灵敏度主要取决于底片的对比度和清晰度，对比度越高，越容易发现缺陷，然而当其他条件固定时，缺陷在底片上的对比度完全取决于主因对比度：IA/IC=eμx（式中IA-透过缺陷处的射线强度；IC-透过缺陷附近材料的射线强度；e-自然对数的底，常数；μ-吸收系数；x-缺陷深度）当缺陷深度一定时，提高主因对比度的唯一途径是增大物质的吸收系数μ，由于μm=CZmλn（式中μm-质量吸收系数；C-常数；Z-物质的原子序数；λ-X射线波长，m和n一般取3），即质量吸收系数与被透物质原子序数的立方和入射X射线波长的立方成正比。当被透物质固定时，吸收系数仅决定于X射线波长。采用较低的管电压时可以得到波长较长的X射线，从而提高了主因对比度，亦即提高了灵敏度，因此在可能的条件下尽量采用较低的管电压，也就是较软的X射线，对提高灵敏度是有益的。

41 焦距对射线检验的灵敏度有何影响？

答：主要表现在四个方面：①焦距的大小会引起缺陷投影的畸变，焦距越小，缺陷投影畸变越大，因此从减小缺陷畸变考虑，选用较大焦距为好；②焦距的大小会引起零件沿射线方向厚度的变化，这是由于射线束成圆锥形扩散，引起零件边缘沿射线方向厚度增加，导致零件在底片上的黑度不均匀，用K表示边缘部位与中间部位沿射线方向的厚度比，即K值越大，零件中间部位与边缘部位沿射线方向的厚度差值越大，使底片黑度越不均匀，对射线检验灵敏度影响越大，选用较大的焦距可有效地减小K值（一般要求K值越小越好，最好不超过1.1），对灵敏度有利；③焦距大小对几何不清晰度的影响，几何不清晰度Ug的存在使缺陷边缘轮廓模糊，降低了底片的清晰度和缺陷对比度，因此焦距越大则Ug越小，检验灵敏度越高；④焦距大小对散射线的影响，焦距增大必然导致曝光量要增加，在管电流一定的情况下只能增加曝光时间，除了降低工作效率外，也会使得散射线作用时间增长而影响底片清晰度，降低了检验灵敏度。因此，从前三项而言，增大焦距对提高检验灵敏度有利，但从散射线影响的因素来说，提高焦距对灵敏度是不利的，故在确定焦距参数时应予以全面综合考虑，选择适宜的焦距。

42 什么是增感和增感系数？

答：增感即是增加胶片的感光量，从而可以相对地缩短对胶片的曝光时间。增感系数用于说明增感屏的作用程度，也称增感因素，它是在所有条件不变的情况下，使底片得到相同黑度时，不使用增感屏所需曝光时间t1与使用增感屏所需曝光时间t2之比：K=t1/t2,但是此增感系数K并不是一个固定不变的值，它随使用的X射线波长和所取底片黑度的不同而变化的。

43 什么是伪缺陷？简述底片上伪缺陷的来源。

[提示]：由于胶片本身质量、胶片保管、剪切、装取、暗室操作处理不当，以及操作者其他操作不慎等原因，在底片上留下可辨别的影像，但并非是被检验工件缺陷在底片上留下的影像，称之为伪缺陷。伪缺陷的来源包括机械损伤或表面附着物形成（如指纹、折痕、划伤、水印等），或者是由化学作用形成（如漏光、感光、药物玷污等），大致上可以分为来源于胶片本身的制造质量与储运、保管，来源于增感屏制造质量及损伤导致的增感不均匀或受过可见光线照射过的荧光增感屏的受激荧光影响等，来源于胶片裁切、包装、照相及冲洗过程中的漏光、手印、静电、划伤或局部折伤等；来源于暗室处理中的玷污、处理不均匀、水迹、指纹、气泡、药水老化失效、操作程序不当等等

44 什么是“照相灰雾（Photo graphic fog）”和“曝光灰雾（exposure fog）”？

[提示]：照相灰雾是由于乳剂和冲洗条件造成的灰雾，无损检测资源网即是胶片固有灰雾与显影时的化学灰雾的总和；曝光灰雾则是由于胶片受到不需要的电离辐射或可见光波的曝光而造成的灰雾

45 就像质计金属丝底片对比度公式讨论提高对比度的主要途径，并说明通过这些途径提高底片对比度可能会带来什么缺点？

答：像质计金属丝底片对比度公式△D= -0.434μpγσ•d/(1+n),提高对比度主要途径及由此带来的缺点：(1)增大μp值。在保证穿透力的前提下，尽量采用能量较低的射线，得这样会使曝光时间增加。(2)增大γ值。可选用γ值更高的微粒胶片；由于非增感型片胶片γ值和黑度成正比，也可通过提高底片黑度增大γ值。但高γ值的微粒胶片感光速度往往较慢，需要增大曝光时间，提高黑度也需要增加曝光时间，此外，黑度的提高会增大最小可见对比度△Dmin，对灵敏度产生不利影响。(3)提高σ值，可选择焦点尺寸小的射源，或增大焦距，这样做也会使曝光时间延长。(4)减少n值。要减小散射线，就要使用铅窗口和铅屏蔽，这些也将降低工作效率，使曝光时间延长。

46 以钢铁材料为例简述吸收系数μ的三个主分量τ、σ、χ在不同射线能量（从0-100MeV）时的分布规律，并用图示说明（答案从略）

47 简述射线照相时，最小可见对比度△Dmin的含义以及它与底片黑度的关系，对于金属线图像来说，在什么黑度范围内是可以识别的，并用图示加以说明（答案从略）

48 简述射线检验中除照相法外的任意三种其他方法的原理及适用范围（答案从略）

49 简述焊缝射线照相时，影响底片图像对比度的各种因素，为提高照相对比度，可采用哪些工艺措施？（答案从略）

50 简述暗室处理时，影响底片质量的主要因素以及因暗室处理不当造成底片质量问题的各种主要表现形式（答案从略）

51 试用射线的衰减规律解释射线照相法的基本原理，并简要分析提高射线照相质量的各种因素（答案从略）

52 何谓射线照相中的“宽容度”？在什么情况下需要提高照相的宽容度？这样会给它的照相质量参数带来什么影响？（答案从略）

53 试述焊缝射线照相时，降低散射、直射线强度比n的几种方法（答案从略）

54 对焊缝而言，采用射线照相法与超声波检验法各有什么优缺点？（答案从略）

55 底片黑度是影响射线照相质量的参数之一，试述黑度D与对比度△D和最小可见对比度△Dmin之间的关系，根据这一关系，应如何选定底片的黑度范围？并作图加以说明（答案从略）

56 γ射线探伤中最常用的几种放射源的名称、半衰期、γ射线能量、比活度范围、化学状态以及对钢铁工件的适用厚度范围是什么？（答案从略）

57 为什么散射线会降低射线照相的灵敏度？在焊缝射线照相中，加强高（余高）和母材区的散射比n的数值分布规律大致是怎样的？并以简图加以说明。在焊缝射线照相中可以用什么方法来减少散射比以提高图像质量？（答案从略）