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300.2.25MHz，在水中近场长度等于58.6mm的直探头，其半扩散角度大约是3.75°(0)
301.把钢中横波折射角为50°的斜探头移至横波声速为2.17x103m/s的材料上，则折射角约为31°(0)
302.2.25MHz，在水中近场长度等于58.6mm的直探头，其半扩散角度大约是7.5°(X)
303.把钢中横波折射角为50°的斜探头移至横波声速为2.17x103m/s的材料上，则折射角约为53°(X)
305.当一平行声束通过液体在轴的圆柱面垂直透入后，该声束将被发散(0)
306.当一平行声束通过液体在轴的圆柱面垂直透入后，该声束将仍然保持平行声束状态(X)
307.为了给tgβ=2.5的斜探头设计一个适合1:1水平定位法，并使得第一次回波前沿出现在第三格，第二次回波前沿出现在第九格的半圆试块，该试块的半径应是42.3mm(X)
308.声压的绝对值P与介质密度ρ、声速C、质点振动速度V之间的关系是：P∝ρCV(0)
309.声压的绝对值P与介质密度ρ、声速C、质点振动速度V之间的关系是：P∝ρ2CV(X)
310.声压的绝对值P与介质密度ρ、声速C、质点振动速度V之间的关系是：P∝ρC2V(X)
311.声压的绝对值P与介质密度ρ、声速C、质点振动速度V之间的关系是：P∝ρ2CV2(X)
312.超声波从声阻抗Za的介质透过声阻抗Zb的介质进入声阻抗Zc的介质，若Zb=(Za•Zc)1/2，则透声效果较佳(0)
313.超声波从声阻抗Za的介质透过声阻抗Zb的介质进入声阻抗Zc的介质，若Za=Zc，则透声效果较佳(X)
314.超声波从声阻抗Za的介质透过声阻抗Zb的介质进入声阻抗Zc的介质，若Zc=Za•Zb，则透声效果较佳(X)
315.超声波从声阻抗Za的介质透过声阻抗Zb的介质进入声阻抗Zc的介质，若Za=Zb•Zc，则透声效果较佳(X)
316.不锈钢比碳钢的声阻抗大1%，由这两种钢材组成的异质界面上，声压反射率为0.5%(0)
317.不锈钢比碳钢的声阻抗大1%，由这两种钢材组成的异质界面上，声压反射率为10%(X)
318.不锈钢比碳钢的声阻抗大1%，由这两种钢材组成的异质界面上，声压反射率为5%(X)
319.不锈钢比碳钢的声阻抗大1%，由这两种钢材组成的异质界面上，声压反射率为1%(X)
320.灵敏度余量、盲区、分辨力是用来表示超声波检测仪与探头组合性能的指标(0)
321.水平线性、垂直线性、动态范围是用来表示超声波检测仪与探头组合性能的指标(X)
322.频带宽度、探测深度、重复频率是用来表示超声波检测仪与探头组合性能的指标(X)
323.入射点、近场长度、扩散角是用来表示超声波检测仪与探头组合性能的指标(X)
324.频带宽度、探测深度、重复频率属于探头的性能指标(X)
325.入射点、近场长度、扩散角、频率属于探头的性能指标(0)
326.设波长为λ，横孔到声源的距离为S0，使回波声压与距离平方成反比的横孔长度应小于4(λ•S0)1/2(0)
327.设波长为λ，横孔到声源的距离为S0，使回波声压与距离平方成反比的横孔长度应小于2(λ•S0)1/2 (X)
328.设波长为λ，横孔到声源的距离为S0，使回波声压与距离平方成反比的横孔长度应小于0.9(λ•S0)1/2 (X)
329.设波长为λ，横孔到声源的距离为S0，使回波声压与距离平方成反比的横孔长度应小于0.8(λ•S0)1/2 (X)
330.超声波在介质中传播时，当遇到尺寸与波长相近似的障碍物时，将产生绕射现象(0)
331.两列频率相同、相位相同或相差一个固定值的超声波束在同一介质中传播时，就有可能产生波的干涉现象(0)
332.在一般情况下，声速决定于介质的种类和波型，但兰姆波的波速还决定于频率与工件厚度的乘积(0)
333.在活塞振子的声场中，就波阵面而言，近声源处可看作是平面波，离声源较远处可看作是球面波(0)
334.超声波的衰减实质就是阻尼振动的一种物理现象(0)
335.所谓振动，就是质点在其平衡位置上所作的往返运动(0)
336.振动在介质中的传播称为波，它是传递能量的一种形式(0)
337.超声波在介质中的衰减类型可以大致地分为扩散、吸收、散乱三种(0)
338.谐振动是质点的振动位移随时间的变化，满足正弦函数关系的一种运动(0)
339.球面波的声压与距离成反比(0)
340.球面波的声压与距离的平方根成反比(X)
341.柱面波的声压与距离成反比(X)
342.柱面波的声压与距离的平方根成反比(0)
343.已知CL钢=5900米/秒，CS钢=3230米/秒，CL有机玻璃=2700米/秒，CS有机玻璃=1460米/秒，若在有机玻璃/钢界面上出现一列速度近似为2907米/秒的波，则该波就是瑞利波(0)
344.已知CL钢=5900米/秒，CS钢=3230米/秒，CL有机玻璃=2700米/秒，CS有机玻璃=1460米/秒，若在有机玻璃/钢界面上出现一列速度近似为2907米/秒的波，则该波就是兰姆波(X)
345.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若该薄层介质两侧的物质具有相同的声阻抗，则薄层厚度为四分之一波长的奇数倍时，声压反射率最大(0)
346.超声波通过一定厚度的薄层介质时，无损检测资源网若该薄层介质两侧的物质具有相同的声阻抗，则薄层厚度为二分之一波长的整数倍时，声压反射率最大(X)
347.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若该薄层介质两侧的物质具有相同的声阻抗，则薄层厚度为四分之一波长的奇数倍时，声压透过率最大(X)
348.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若该薄层介质两侧的物质具有相同的声阻抗，则薄层厚度为二分之一波长的整数倍时，声压透过率最大(0)
349.简谐振动方程式y=Asin(ωt+Ψ)中,y为振动位移，A表示最大振幅，Ψ表示初位相(0)
350.振动在介质中的传播过程形成波，在波的传播过程中，任意两个相邻的、相位相同的质点之间的距离称为一个波长(0)
351.孔径相同的平底孔与长横孔在六倍近场长度以外时，其反射波最高的是长横孔(0)
352.孔径相同的平底孔与长横孔在六倍近场长度以外时，其反射波最高的是平底孔(X)
353.两个回波高度比为0.1，则它们的分贝差为（-20）dB(0)
354.两个回波高度相差12dB，则对应的回波高度比为4:1(0)
355.确定探头扫查速度时不必考虑仪器的脉冲重复频率(X)
356.特别是在自动化检测中，确定探头扫查速度时必须考虑仪器的脉冲重复频率(0)
357.任何探头电缆,只要是高频的,在任何情况下均可互换使用(X)
358.调节探伤仪"深度细调"旋钮时,可连续改变扫描线扫描速度(0)
359.调节探伤仪"抑制"旋钮时,抑制越大,仪器动态范围越大(X)
360.调节探伤仪"抑制"旋钮时,抑制越大,仪器动态范围越小(0)
361.调节探伤仪的"水平"旋钮,将会改变仪器的水平线性(X)
362.测定仪器的"动态范围"时,应将仪器的"抑制","深度补偿"旋钮置于"关"的位置(0)
363.超声波探伤仪开机通电后立即可以开始正常检测工作(X)
364.超声波探伤仪开机通电后应经过一段时间预热后才可以开始正常检测工作(0)
365.超声波检测时只需要用一次回波就能调节好时基线(X)
366.垂直入射纵波法检测时,找到缺陷的最大回波,则缺陷正好位于直探头中心的正下方(X)
367.绝对灵敏度法测长适用于形状不规则的长条形缺陷测长(0)
368.半波高度(6dB)法主要适用于形状较规则的长条形缺陷测长(0)
369.半波高度(6dB)法可以适用于任何类型的长条形缺陷测长(X)
370.超声波检测作业中,完成时基扫描线校正(俗称"定标")後,始波前沿应落在水平刻度零点的左边(0)
371.超声波检测作业中,完成时基扫描线校正(俗称"定标")後,始波前沿应落在水平刻度零点的右边(X)
372.超声波检测作业中,完成时基扫描线校正(俗称"定标")後,始波前沿应恰好落在水平刻度零点上(X)
373.正确调整好时基线后,始波前沿应对准水平刻度的零位(X)
374.超声波检测中评定缺陷为Φ2mm平底孔当量,即意味着该缺陷的实际面积就是Φ2mm的园面积大小(X)
375.超声波检测中评定缺陷为Φ3mm平底孔当量,即意味着该缺陷的实际面积就是Φ3mm的园面积大小(X)
376.超声波检测中评定缺陷为Φ2mm平底孔当量,即意味着该缺陷的反射回波与Φ2mm园面积的反射回波大小相当(0)
377.超声波检测中评定缺陷为Φ6mm平底孔当量,即意味着该缺陷的反射回波与Φ6mm园面积的反射回波大小相当(0)
378.超声波检测中评定缺陷为Φ2mm横通孔当量,即意味着该缺陷的反射回波与相同声束截面下的Φ2mm横通孔表面积的反射回波大小相当(0)
379.超声波检测中评定缺陷为Φ2mm横通孔当量,即意味着该缺陷的实际大小就是等同于Φ2mm横通孔表面积大小(X) #p#副标题#e#
380.超声波检测中评定缺陷为Φ2mm横通孔当量,即意味着该缺陷的实际截面形状等同于Φ2mm横通孔的横截面形状(X)
381.采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸(0)
382.采用当量法确定的缺陷尺寸一般大无损检测资源网于缺陷的实际尺寸(X)
383.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减小的材料中脉冲重复频率选用过高(0)
384.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减小的材料中脉冲重复频率选用过低(X)
385.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减小的材料中采用较高的探测频率(X)
386.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减小的材料中采用较低的探测频率(X)
387.在钢锻件探伤中,脉冲重复频率选择太高是产生幻像波的重要原因之一(0)
388.超声波检测使用的缺陷长度测定方法中，以绝对灵敏度法的灵敏度最高，因此测得的缺陷长度偏大(0)
389.绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时,测长灵敏度高,测得的缺陷长度大(0)
390.在役部件超声波检测主要是探测疲劳裂纹和应力腐蚀裂纹(X)
391.在对铸钢件进行超声波检测时,回波低的未必是小缺陷(0)
392.检测板厚较大的焊缝,常采用较小折射角的探头,这是为了缩短声程,减少声路上的声能衰减,提高探测灵敏度(0)
393.对复合板进行超声波检测时,如果复合界面有分层时其界面回波会降低(X)
394.对复合板进行超声波检测时,如果复合界面有分层时其界面回波会增高(0)
395.钢板探伤中若无底波出现则说明钢板中无缺陷(X)
396.对厚度与波长相当的薄板主要采用横波法检测(X)
397.对厚度与波长相当的薄板主要采用纵波法检测(X)
398.对厚度与波长相当的薄板主要采用瑞利波法检测(X)
399.对厚度与波长相当的薄板主要采用兰姆波法检测(0)
400.厚板与中厚板超声波检测主要采用横波法(X)
401.厚板与中厚板超声波检测主要采用纵波法(0)
402.厚板与中厚板超声波检测主要采用兰姆波法(X)
403.厚板与中厚板超声波检测主要采用表面波法(X)
404.厚板与中厚板超声波检测主要采用爬波法(X)
405.串列式双探头法探伤实质即为一发一收的穿透法(0)
406.焊缝探伤所用斜探头,当楔块底面后部磨损较大时,其折射角将变小(X)
407.焊缝探伤所用斜探头,当楔块底面前部磨损较大时,其折射角将变小(0)
408.对焊缝中与声束成一定角度的缺陷,探测频率较高时,缺陷回波不易被探头接收(0)
409.焊缝探伤中,依据缺陷的静态波形可准确地判断缺陷性质(X)
410.在超声波检测中,依据缺陷回波的静态波形就已经可以准确判断缺陷的性质(X)
411.在超声波检测中,仅仅依据缺陷回波的静态波形还不可以准确判断缺陷的性质(0)
412.管材和棒材水浸横波检测时,通常利用调整偏心距的方法来调节入射角(0)
413.管材水浸法周面弦向入射横波探伤时,通常利用调整偏心距来实现入射角的选择 (0)
414.管材水浸法周面弦向入射横波探伤时,入射角的选择通常是利用调整水距来实现的(X)
415.小直径薄壁无缝钢管用水浸点聚焦探头作横波检测时,折射角的调整是通过调节水层距离实现的(X)
416.管子壁厚t与外径D之比(t/D)＞0.2,在用纯横波检查纵向缺陷时,中心声束会达不到管子的内壁(0)
417.管子壁厚t与外径D之比(t/D)＜0.2,在用纯横波检查纵向缺陷时,中心声束会达不到管子的内壁(X)
418.管材纯横波探伤,要保证声束能探查到管内壁的条件是管壁厚与管外径之比大于0.2(X)
419.管材纯横波探伤,要保证声束能探查到管内壁的条件是管壁厚与管外径之比小于0.2(0)
420.小口径钢管采用水浸聚焦探头检验时,属于纵波垂直法探伤(X)
421.小口径钢管采用水浸聚焦探头检验时,属于横波探伤(0)
422.采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越大,入射角允许范围越大(0)
423.采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越大,入射角允许范围越小(X)
424.采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越小,入射角允许范围越小(0)
425.采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越小,入射角允许范围越大(X)
426.钢管作手工接触法周向探伤时,应从顺,逆时针两个方向各探伤一次(0)
427.钢管作手工接触法周向探伤时,只需从一个方向探伤一次即可(X)
428.钢管水浸探伤时,水中加入适量活性无损检测资源网剂是为了调节水的声阻抗,改善透声性(X)
429.钢管水浸探伤时,水中加入适量活性剂是为了改善水的润湿性,减少附着在探头和钢管表面的气泡(0)
430.钢管水浸探伤时,如钢管中无缺陷,荧光屏上只有始波和界面波(X)
431.管材超声波检测主要采用横波法(0)
432.管材超声波检测主要采用纵波法(X)
433.管材超声波检测主要采用兰姆波法(X)
434.管材超声波检测主要采用瑞利波法(X)
435.锻件水浸法纵波垂直入射探伤时,对水层距离的要求是使第二次界面回波落在第一次底波之后,并且尽可能利用距离-振幅曲线上的高声压区(0)
436.在锻件的超声波探伤中,有关缺陷的定性定量问题已经解决(X)
437.轴类锻件,一般来说以纵波直探头作径向探测效果最佳(0)
438.轴类锻件,一般来说以斜探头作周面弦向探测效果最佳(X)
439.轴类锻件,一般来说以斜探头作周面轴向探测效果最佳(X)
440.使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时,探头应作正反两个方向扫查(0)
441.使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时,只需作一个方向扫查即可(X)
442.对饼形锻件采用直探头在端面平面上作轴向探测是最常用的探伤方法(0)
443.对饼形锻件采用直探头在侧面圆周面上作径向探测是最常用的探伤方法(X)
444.对饼形锻件采用斜探头在端面平面上作斜入射探测是最常用的探伤方法(X)
445.锻件探伤中,如底波明显下降或消失而不是声接触不良引起时,说明锻件中可能存在较严重的缺陷(0)
446.超声波检测时要求声束方向与缺陷取向平行为宜(X)
447.超声波检测时要求声束方向与缺陷取向垂直为宜(0)
448.所谓超声波的材质衰减包括了吸收衰减,扩散衰减和散射衰减(0)
449.粗糙的入射表面会导致缺陷回波高度降低(0)
450.用修磨斜探头底面的方法可以改变探头的入射角,若探头底面前部修磨量大,则探头的入射角增大(X)
451.用修磨斜探头底面的方法可以改变探头的入射角,若探头底面后部修磨量大,则探头的入射角增大(0)
452.斜探头检测焊缝时,按一定比例调整探伤仪扫描线的目的是为了方便确定缺陷位置(0)
453.斜探头检测焊缝时,按一定比例调整探伤仪扫描线的目的是为了方便确定缺陷大小(X)
454.盲区与始波宽度是同一概念(X)
455.斜探头楔块前部和上部开有消声槽的目的是使声波反射回晶片处,减少声能损失(X)
456.水浸法垂直入射纵波检测时,水距的选择在任何情况下只要保证第二次界面回波落在第一次底面回波之后就可以了(X)
457.工件表面越粗糙,使用的超声检测频率应当越高,耦合剂粘度应当越稀(X)
458.工件表面越粗糙,使用的超声检测频率应当越低,耦合剂粘度应当越稠(0)
459.双晶直探头倾角越大,交点离探测面距离越远,覆盖区越大(X) #p#副标题#e#
460.双晶直探头倾角越小,交点离探测面距离越远,覆盖区越大(0)
461.在通用AVG曲线上,可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸(X)
462.工件表面比较粗糙时,为防止探头磨损和保护晶片,宜选用硬保护膜(X)
463.中心切槽的半圆试块,其反射特点是多次回波总是等距离出现(0)
464.用接触法在试件中产生横波的方法,唯有利用透声斜楔使纵波倾斜入射到界面上(X)
465.曲面工件探伤时,探伤面曲率半径越大,耦合效果越好(0)
466.曲面工件探伤时,探伤面曲率半径越小,耦合效果越好(X)
467.曲面工件探伤时,探伤面曲率越大,耦合效果越好(X)
468.曲面工件探伤时,探伤面曲率越小,耦合效果越好(0)
469.只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度(X)
470.当工件中缺陷在各个方向的尺寸均小于声束截面时,无法采用测长法确定缺陷长度(X)
471.对于厚度大于3N(N=D2/4λ)的锻件,采用超声波检测法测定材质衰减系数时的基本公式是:X=[20lg(B1/B2)]/2S(注:式中N-近场长度,D-探头晶片直径,λ-超声波在材料中的波长,B1和B2分别为第一、二次底波高度,S-工件厚度)(0)
472.对钢板用纵波直探头探伤时，若荧光屏上同时存在底波和伤波,说明钢板中存在小于声束直径的缺陷(0)
473.对钢板用纵波直探头探伤时,通常只根据缺陷波情况判定缺陷(X)
474.钢板探伤时，通常只根据缺陷波情况判别定缺陷(X)
475.用纵波直探头探伤钢板时,不但要根据缺陷波情况，还要视底波变化情况来判定缺陷(0)
476.复合钢板探伤时,可从母材一侧探伤,也可从复合材料一侧探伤(0)
477.焊缝中的裂纹回波信号基本特征是波幅不高,当探头作原位摆动或转动时,波幅无明显变化(X)
478.超声波检测焊缝时,对所发现的缺陷必须测量其指示长度是为了便于评价与返修(0)
479.某钢管规格Φ83x14mm,可以采用纯横波法检测该管材内外壁缺陷(0)
480.探伤灵敏度越高,检测盲区越小,分辨率越低(X)
481.不能探测到缺陷的范围称为近场区(X)
482.组合双晶探头的焦距大小取决于两个晶片的相对倾角,相对倾角越大,焦距越短(0)
483.组合双晶探头的焦距大小取决于两个晶片的相对倾角,相对倾角越小,焦距越长(0)
484.组合双晶探头的焦距大小取决于两个晶片的相对倾角,相对倾角越大,焦距越长(X)
485.组合双晶探头的焦距大小取决于两个晶片的相对倾角,相对倾角越小,焦距越短(X)
486.为满足较高的近表面分辨率要求,较适宜的方法是选用组合双晶探头(0)
487.缺陷本身的开隙度,取向,表面粗糙度以及内涵物等都会对缺陷回波高度有影响(0)
488.表面波探伤的实践经验之一是采用触摸法判断缺陷位置(0)
489.对薄板进行兰姆波法检测时的实践经验之一是采用触摸法判断缺陷位置(0)
490.超声波检测大锻件时使用的重复频率比管子自动探伤时低(0)
491.超声波仪器的C型显示能展示工件中缺陷在探测方向上的面积投影，但不能展示其深度(0)
492.超声波仪器的C型显示属于二维显示(0)
493.超声波仪器的B型显示属于三维立体显示(X)
494.轴类零件作超声波检测时，若遇到有游动讯号出现，则说明轴的内部存在危险性缺陷(X)
495.当被检材料的晶粒尺寸大于1/10波长时，超声波的散射会影响试验结果(0)
496.在超声波检测中，如果使用的重复频率过高，在探测粗晶材料时会出现林状回波(X)
497.在超声波自动化检测中，必须考虑仪器重复频率对检验速度的影响(0)
498.采用纵波法检查钢板时，探头扫查移动方向以垂直于钢板压延方向较好(0)
499.用直探头探测同一缺陷，探头直径增大时，缺陷波增高，但底波高度不变(X)
500.超声波检测仪的发射脉冲应尽可能宽度大、前沿陡峭(0)
501.超声波检测使用的试块只能用于调整检测灵敏度和评估缺陷大小(X)
502.由于管子曲率对超声波有散射作用，所以管子探伤必须采用水浸聚焦方法(X)
503.根据焊缝的实际情况，有时采用斜探头进行探伤，有时则应当采用直探头进行探伤(0)
504.根据锻件的实际情况，可采用直探头、组合双晶探头、斜探头进行探伤(0)
505.用直探头在轴类锻件的圆周面上进行周向扫查时，只有径向缺陷才会产生游动信号(X)
506.由于铸件中的缺陷主要产生在浇冒口部位，因此在铸件的超声波检测中，检测的重点应放在浇冒口部位，其它部位可以不检查或做一般性检查(X)
507.对焊缝进行超声波检测的时机是焊缝冷却到室温后即可进行超声波检测(X)
508.如果使用带有缺陷自动报警和缺陷自动记录装置的超声波检测仪，在检测过程中探头移动速度就可以不须限制(X)
509.探伤仪中的发射电路亦称为触发电路(X)
510.探伤仪中的发射电路可产生几百伏到上无损检测资源网千伏的电脉冲去激励探头晶片振动(0)
511.探伤仪的扫描电路即为控制探头在工件探伤面上扫查的电路(X)
512.探伤仪发射电路中的阻尼电阻的阻值愈大，发射强度愈弱(X)
513.调节探伤仪“延迟”旋钮时，扫描线上回波信号间的距离也将随之改变(X)
514.探头中压电晶片背面加吸收块是为了提高机械品质因素，减少机械损耗(X)
515.利用IIW1试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围(0)
516.当斜探头对准IIW2试块上R50曲面时，荧光屏上的多次反射回波是等距离的(X)
517.测定组合灵敏度时，可先调仪器的“抑制”旋钮，使电噪声电平10%，再进行测试(X)
518.测定“始波宽度”时，应将仪器的灵敏度调至最大(X)
519.为提高分辩力，在满足探伤灵敏度要求情况下，仪器的发射强度应尽量调得低一些(0) #p#副标题#e#
520.串列式双探头法探伤即为穿透法(X)
521.实际探伤中，为提高扫查速度减少杂波的干扰，应将探伤灵敏度适当降低(X)
522.采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸(0)
523.厚钢板探伤中，若出现缺陷的多次反射波，说明缺陷的尺寸一定较大(0)
524.Φ50x10mm的钢管，亦可采用常规斜探头作接触法周向探伤(X)
525.用斜探头对大口径钢管作接触法周向探伤时，其跨距比同厚度平板大(0)
526.焊缝斜角探伤中，裂纹等危害性缺陷的反射波幅总是很高的(X)
527.焊缝斜角探伤时，如采用直射法，可不考虑结构反射、变型波等干扰回波的影响(X)
528.钢板探伤中若出现缺陷的多次反射波，缺陷尺寸未必一定较大(X)
529.钢板探伤中若荧光屏上只有正常波形，仅表示钢板中无当量超过调整起始灵敏度的基准平底孔的缺陷(0)
530.钢板探伤中若无底波时，说明钢板中无缺陷(X)
531.钢板中不允许存在的缺陷尺寸，主要是用当量法测定的(X)
532.即便探头折射角较大，在焊缝一侧用全跨距探伤，可以扫查到整个焊缝截面，但仍然有必要从焊缝两侧探伤(0)
533.与表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超声波检测时，通常使用频率较高的探头和粘度较高的耦合剂(X)
534.与表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超声波检测时，通常使用频率较低的探头和粘度较低的耦合剂(X)
535.实践证明，在探测工件侧壁附近的缺陷时，探伤灵敏度往往会明显偏低(0)
536.实践证明，在探测工件侧壁附近的缺陷时，探伤灵敏度往往会明显偏高(X)
537.在中薄板的直探头多次反射法探伤中，常会发现小缺陷的多次反射回波中第二次要比第一次高(0)
538.在中薄板的直探头多次反射法探伤中，小缺陷的多次反射回波中肯定第二次要比第一次低(X)
539.管子的超声波检测除了采用水浸聚焦探伤方法外，还可以采用斜探头接触法(0)
540.钢板探伤时若无底波反射，则说明钢板中无缺陷（X）
541.钢板探伤时无底波，但有多列紊乱的缺陷波，则说明钢板有重皮缺陷，其位置在和探头不接触的那一个表面（X）
542.在探伤过程中，探伤人员如认为某张钢板中有白点缺陷存在，则此钢板应报废（0）
543.下面左图表示A显示方式，中图表示B显示方式，右图表示C显示方式（0）
544.超声波只有在斜射时才能在异质界面发生波型转换，并且至少一侧为固体（0）
545.超声波检测中，采用横轴表示实际声程，纵轴表示规则反射体相对波高的坐标曲线是描述距离、波幅、当量大小之间关系的曲线，又称实用AVG曲线，在调节探伤灵敏度和对缺陷定量中得到了广泛应用（0）
546.超声波的波长由声速与频率求得，而声速则由材质和波的种类决定（0）
547.超声波检测中，2.25MHz探头的分辨率比5MHz探头的分辨率差（0）
548.当超声波声程大于3N时，如声程相同，若平底孔面积相差一倍，则波高相差6dB（0）
549.当超声波声程大于3N时，如声程相同，若长横孔直径相差一倍时，则波高相差3dB（0）
550.在超声波检测中，相同的探测灵敏度下，缺陷波幅决定于缺陷的大小、取向与类型（0）
551.超过人耳听觉范围的声波称为超声波，它的频率高于20千赫，属于机械波（0）
552.根据λ=c/f，应用2P20x20 60°的探头探测钢时，钢材中超声波的波长是1.6mm（0）
553.纵波、横波和表面波以及兰姆波都可在固体中传播（0），只有纵波可在液体中传播（0）
554.纵波、横波和表面波以及兰姆波都可在液体中传播（X）
555.只有纵波可在液体中传播（0）
556.兰姆波只能在固体中传播（0）
557.超声波传播的条件是有发射声波的声源、有传播声波的弹性介质（0）
558.超声波传播的必要条件是发射声波的声源和传播声波的弹性介质缺一不可（0）
559.超声波传播的条件是必须具有发射声波的声源或传播声波的弹性介质（X）
560.超声波在传播过程中仅有能量的传播，没有物质的迁移（0）
561.超声波在传播过程中不单有能量的传播，而且有物质的迁移（X）
562.超声波的波阵面是指某一瞬间同相位振动的各质点构成的空间曲面（0）
563.介质中质点振动方向和传播方向垂直时，此波称为横波。（0）
564.介质中质点振动方向和波的传播方向平行时，此波称为纵波。（0）
565.横波的声速比纵波的声速慢。（0）
566.焊缝探伤主要用横波（0）
567.超声波在传播过程中产生干涉现象是由于两束以上的波相互作用，引起强度重新分布的结果。（0）
568.超声波在介质中的传播速度就是声能的传播速度（0）
569.一般来说，在频率一定的情况下，在给定的材料中，横波探测缺陷要比纵波灵敏，这是因为横波比纵波的波长短（0）
570.超声波探伤用的横波，具有的特性是质点振动方向垂直于传播方向，传播速度约为纵波速度的1/2（0）
571.频率都是2.5MHZ的纵波和横波在探测钢时的波长分别是2.34mm和1.3mm（0）
572.频率都是2.5MHZ的纵波和横波在探测铝时的波长分别是2.6mm和1.26mm（0）
573.钢中声速最大的波型是纵波（0）
574.在固体表面能沿园滑过渡的边角传播的超声波称为表面波（0）
575.传播速度略小于横波，不向材料内部传播的超声波是表面波（0）
576.在传播超声波的介质内，由于交变振动产生了压强，这种交变的附加压强就叫做声压（0）
577.在传播超声波的介质内，单位时间内通过超声波传播方向垂直截面单位面积上的声能称为声强（0）
578.在传播超声波的介质内，声强与声压的振幅平方正比。（0）
579.近场区是指邻近探头，声压无规律变化，有极大值和极小值的区域（0）
580.远场区是指远离探头，随着距探头的距离增加，声压单调下降的区域（0）
581.邻近压电晶片，声压分布不均匀的超声场为近场，此区长度在频率给定时，随晶片直径变小而缩短。用公式L0=（D2-λ2）/4λ表示（0）
582.设晶片表面的平均入射声压为P0则理想园平面小缺陷的反射声压PF=P0As•S/λ2X2，反射波的声压与缺陷面积S成正比，同时与缺陷距离X的平方成反比而减少。面积为As的晶片近场距离为N，当距离在1.6N以外时,这个算式可以认为基本上是成立的。（0）
583.设超声波的入射声压为P0，则大平底面而无损检测资源网产生的反射波声压PF=P0As/2λX，反射波的声压与晶片面积成正比而增大，与距离成反比而减少。这个算式对晶片面积为As，距离在1.6N以外的声场基本上适用。（0）
584.超声波投射到界面上，在同一介质中改变其传播方向的现象叫做反射（0）
585.超声波从一种介质进入另一种不同介质而改变传播方向的现象叫做折射（0）
586.超声波从一种介质进入另一介质后，其声束轴线与界面法线所成的夹角称为折射角（0）
587.同一介质中，同一波型的超声波反射角等于入射角（0）
588.超声波到达两个不同材料的界面上，可能发生反射、折射、波型转换（0）
589.超声波从一种介质进入另一介质，入射声束轴线与界面法线所成的夹角称为入射角（0）
590.在离晶片的一定距离外，超声波按一定角度扩散。在超音波检测中，这个角度是以声压在理论上是零点的位置作为基准的，即说指向角θ0=70λ/D（0）
591.公式sinθ1/C1= sinθ2/C2叫做折射定律（0）
592.使一种波产生90°折射的入射角叫做临界角（0）
593.超声波垂直入射至异质界面时，反射波和透射波的波型不变（0）
594.为使经折射透入第二介质的超声波只有横波，纵波在第一介质的入射角应在第一和第二临界角之间（0）
595.有一个5P20x10 45°的探头，有机玻璃楔块内声速为2730m/s，被检材料（碳钢）中的声速为3230m/s，求入射角α的公式为α=Sin-1(3230/2730)•Sin45°（0）
596.超声波从水中以5°角入射到钢内，此时的横波折射角小于纵波折射角（0）
597.在水/钢界面上，水中入射角为7°，在钢中将是纵波、横波同时存在（0）
598.用入射角为30°的有机玻璃斜探头探测钢时，折射横波的折射角是36°。要使钢中折射横波的折射角是45°，纵波在水中的入射角应是19.17°。（0）
599.超声波以一定角度入射在不同介质的界面上，第二介质中声波折射角的大小是由两个介质中声速决定的（0）
600.超声波在介质中传播时，任一点的声压和该点振动速度之比称为声阻抗，它常用介质密度和声速的乘积来表示（0）
601.超声波纵波从水中倾斜入射到金属材料中时，折射角主要取决于水与金属的相对声速及声波入射角（0）
602.超声波通过一定厚度的薄层介质时，若介质两侧面的物质声阻抗相等，则薄层厚度为1/2波长的整倍数时，将有最大的声压透过率（0）
603.探头前保护膜的声阻抗公式，（Z=声阻抗）应是Z保护膜=(Z晶片xZ工件)1/2 （0）
604.超声波通过两种材料的界面时，如果第一介质的声阻抗比较大，但声速与第二介质相同，则折射角与入射角相同（0）
605.超声波从材料1进入材料2，随声阻抗比Z1/Z2的增大，而透过声压减小（0）
606.表征材料声学特性的材质衰减，主要是由散射和吸收所引起的（0）
607.当超声波的波长与金属晶粒相比，数值相近，或小于晶粒时，衰减显著、穿透能力减弱，同时由于晶粒反射，出现杂乱回波，不易检出缺陷。（0）
608.为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用较低频率和纵波进行探伤。（0）
609.因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫做散射（0）
610.缺陷反射能量的大小取决于缺陷的尺寸、方位、类型（0）
611.晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚则频率越低（0）
612.一般地说，如果频率相同，则在粗晶材料中，穿透力强的波型是纵波（0）
613.一般地说，如果频率相同，则在粗晶材料中，穿透力强的波型是横波（X）
614.在小工件中，声波到达底面之前，由于声束扩散，在试件侧面可能会有波型转换产生（0）
615.发射探头发射的超声波经试件后再由另一接收探头接收，这种检验方法称为穿透法（0）
616.兰姆波可用于检查薄板（0）
617.晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为垂直法（0）
618.靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为超声波检测仪器存在有仪器阻塞效应（0）
619.超声波探伤中常用的换能器是利用压电原理（0）
620.把某些材料所具有的，能使电能与机械能相互转换的特性称为压电效应（0）
621.声程大于3N时，声程增加一倍，大平底的反射声压为原来的1/2倍（0）
622.声程大于3N时，声程增加一倍，平底孔的反射声压为原来的1/4倍（0）
623.声程大于3N时，声程增加一倍，横通孔的反射声压为原来的1/2.8倍（0）
624.声程大于3N时，声程增加一倍，球孔的反射声压为原来的1/4倍。（0）
625.声程大于3N时，若声程相同，孔径增加一倍，平底孔反射声压为原来的4倍（0）
626.声程大于3N时，若声程相同，孔径增加一倍，横通孔的反射声压为原来的1.42倍（0）
627.声程大于3N时，若声程相同，孔径增加一倍，球孔的反射声压为原来的2倍（0）
628.一般地说，在远场区，同一深度的平底孔，直径增大一倍，其回波高度提高12dB（0）
629.大平底的反射声压公式PF=P0As/2λX（Ａs-晶片面积）（0）
630.平底孔的反射声压公式为PF=P0As•S/λ2•X2（S-平底孔面积）（0） #p#副标题#e#
631.球孔的反射声 压公式为PF=P0As•d/4λX2（d-球孔直径）（0）
632.长横通孔的反射公式为PF=[P0As/2(2)1/2•λ]•(d/X3)1/2（d-横通孔直径）（0）
633.在远场区，同直径的平底孔，声程从100mm增大到300mm，若不计材质衰减，则声压减小19dB（0）
634.在远场，同声程的长横通孔，直径从2mm增大到8mm时，其回波声压提高6dB（0）
635.在远场，同直径长横通孔，声程增大1倍，不计材质衰减，则声压减小9dB（0）
636.晶片发射的超声波声压，在1.6N以外，与晶片面积S成正比，与波长成反比，因此频率越高，声压也越大（0）
637.声程大于3N且声程相同时，若孔径差1倍，平底孔回波高度差12dB，横通孔的回波高度差3dB，球孔回波高度差6dB。（0）
638.声程大于3N且声程相同时，若孔径相同，声程差一倍，平底孔回波高度差12dB，横通孔的回波高度差9dB，球孔回波高度差12dB。（0）
639.当某些晶体受到拉力或压力时产生形变，从而晶体的表面上出现电荷，这种现象称为压电效应，这一效应是可逆的（0）
640.压电晶片是具有压电效应的晶体材料，用于超声波探伤的压电晶体材料，如石英、硫酸锂、碘酸锂等是单晶体，而钛酸钡、锆钛酸铅是多晶体，也称压电陶瓷（0）
641.把电能转变成超声声能的器件叫做换能器（0）
642.超声波检测常用的探头种类有直探头、斜探头、组合双晶探头、水浸探头。（0）
643.液浸聚焦探头设计中，声透镜的声速为C1，液体中的声速为C2，若C1＞C2，声透镜应加工成平凹形。若C1＜C2，声透镜应加工成平凸形。若C1=C2，声透镜不产生聚焦（0）
644.水浸法比直接接触法优越，主要是由于不受工件表面光洁度影响，还可以实现声束聚焦的缘故（0）
645.为实现钢管的横波探伤，要求入射角在第一临界角和第二临界角之间（0）
646.当横波入射到平面缺陷时，在一定条件下，就会产生波型转换，这种现象与横波入射角有关（0）
647.超声波声速与介质弹性系数、密度之间的关系式是CL=[(E/ρ)(1-σ)/(1+σ)(1-2σ)]1/2 （0）
648.共振式超声波仪器主要采用连续纵波（0）
649.为了在工件中得到纯横波，不但要选择合适的入射角，而且要给斜探头选择合适的斜楔材料，应满足斜楔材料的纵波声速大于工件中的横波声速（X）
650.粗晶材料的探伤可选用较低频率的探头（0）
651.由于工件表面粗糙，而造成声波传播的损耗，其表面补偿dB值应用实验方法测定（0）
652.用纵波水浸法探测钢材时，为防止在第一次底面回波前面出现二次界面回波，水层厚度为25mm时，能探测钢材的最大厚度为100mm（0）
653.直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差5dB，材质衰减均为0.004dB/mm，前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%，则后者的底面回波应为满幅度的20%（0）
654.管子的槽形参考标准，应把槽加工在管子的内外表面（0）
655.超声波探伤试块的作用是检验仪器和探头的组合性能、确定灵敏度、缺陷定位、缺陷定量（0）
656.组成直探头的元件有压电晶片、吸收块、高频接线和地线、保护膜、外壳等，其中压电晶片是主要元件，其功能是将电能转变成声能，并且可逆（0）
657.超声波探头中的吸收块所起的作用是抑制不需要的振动和吸收杂波，常用环氧树脂粉加钨粉制成（0）
658.超声波探头中的匹配吸收块（即阻尼块），其作用是阻尼晶片的振动使脉冲便窄，限制从晶片背面发射的声波，以防止出现杂波。探头若不加阻尼块，始脉冲应会变宽，盲区变大，分辩力降低（0）
659.斜探头的楔块应采用纵波声速比被检工件横波声速小的材料制成，它的功能是将纵波按给定的入射角斜射到工件表面，在界面发生折射，形成横波或瑞利波或兰姆波在工件中传播（0）
660.联合双直探头有两块压电晶片，在电路上和声路上彼此分离，晶片前装有延迟块，此种探头有盲区小，有助于近表面缺陷的检出（0）
661.频率高的探头容易产生宽度窄的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择高频率的探头。（0）
662.超声波探伤仪最重要的性能指标有分辨力、动态范围、水平线性、垂直线性、灵敏度、信噪比。（0）
663.波束中心入射到试件探测面的一点叫入射点，此点到探头楔块前端的一段距离叫探头的前沿距离，入射点变化时，此段距离也变化。（0）
664.如果仪器采用锯齿扫描发生器，其扫描锯齿波形的好坏程度，决定了扫描水平线性的好坏。（0）
665.使用AVG曲线法定量时，仪器调节中，不应该使用“深度补偿”和“抑制”（0）
666.调节“抑制”旋钮，会影响仪器的垂直线性和动态范围（0）
667.超声波检测仪中，以荧光屏纵轴显示超声波信号强度，以横轴显示超声波传播时间或反射体深度的脉冲显示法叫做A扫描显示（0）
668.利用阴极发射的电子束在荧光屏上显示图象的电子管叫做阴极射线管（0）
669.超声波检验中，脉冲的持续时间称为脉冲宽度（0）
670.一个垂直线性好的仪器，在荧光屏上波幅从80%处降至5%时，应衰减24dB（0）
671.在A型扫描显示中，电子束在阴极射线管的荧光屏上均匀重复移动，所形成的水平线叫做扫描线（0）
672.超声波检测仪中，产生高压电脉冲以激发探头工作的电路单元称为脉冲发生器（0）
673.被放大的信号幅度与缺陷的反射面积成正比关系，放大器这一非饱合的放大区域称为线性范围（0）
674.能将两个相邻缺陷在示波屏上区分开的能力叫分辨力（0）
675.探伤仪发射电路部分的功用是发射电脉冲（0）
676.仪器的盲区，除了与探头特性有关外，主要还决定于接收放大器在强信号冲击下的阻塞时间。（0）
677.国际焊接学会的IIW试块可用来测定超声波检测仪和探头的组合性能指标，其中包括：水平线性、垂直线性、灵敏度、分辨力、盲区、声程定标、入射点、折射角（0）
678.国际焊接学会的IIW试块其厚度为25mm，宽度为100mm，长度为300mm，凹槽上的85mm及槽两侧的91mm和100mm可用于测定探头的分辨力（0）
679.钢板探伤中，当同时存在底波和伤波时，说明钢板中存在小于声场直径的缺陷。（0）
680.当第一次和第二次底波之间出现伤波时，钢板中可能存在尺寸很大的缺陷，也可能存在尺寸很小的缺陷，可以用6dB法测量缺陷的边界位置（0）
681.当板材厚度为δB，水层厚度为δS时，要求采用四次重合法探伤。其条件分别为一次重合法时δS1=δB/4，二次重合法时δS2=δB/2、三次重合法时δS3=3δB/4、四次重合法时δS4=δB（0）
682.管件探伤的入射角公式为(CL1/CL2)≤sinα≤(r/R)•(CL1/CS2)，式中： R—管子外径，r—管子内径（0）
683.管子超声波探伤中，超声波在耦合介质中聚焦点的内半角公式为θ=tg-1(D/2F) 式中：D-晶片直径；F-焦距（0）
684.已选定某一聚焦探头对管材作水浸聚焦探伤，如果聚焦点不能调整到被检管件的中心轴线上，而是偏离中心轴线一定距离，在管壁内将出现无底波反射（0）
685.采用大平底反射波探测锻件，在计算缺陷当量大小时，要注意缺陷是否在3倍近场长度以外（0）
686.采用大平底反射波探测锻件时，一定注意底面的平直度（0）
687.在单探头扫查法中，分为①锯齿型扫查法、②转角扫查法、③环绕扫查法、④斜平行扫查法、⑤沿焊缝两侧平行扫查法（0）
688.厚板上进行焊缝探伤时，如焊缝不磨平，无损检测资源网应从工件的内表面和外表面，在焊缝两侧，共四个探测面探伤。（0）
689.与表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超声波检测时，通常使用频率较低的探头和粘度较高的耦合剂（0）
690.超声波检测用的探头中，置于压电晶片背面的阻尼块有三个基本作用，第一是用于固定晶片位置，第二是用于吸收晶片背面的超声波，第三是用于减少晶片持续振动时间，从而使得脉冲宽度变窄（0）
691.钢板的直探头探伤中，显示于示波屏上的缺陷回波图形可以分为三种，它们是：底波多次反射和缺陷的多次反射波同时出现、只有缺陷的多次反射波出现、只有一些紊乱的波（0）
692.钢板探伤的扫查方式有：全面扫查、格子线扫查、列线扫查、边缘扫查（0）
693.选择焊缝探伤中的斜探头折射角时，为使整个焊缝截面不漏检，选用的折射角β必须满足tgβ≥(D+L)/T，式中：D-焊缝宽度；L-探头前沿长度；T-钢板厚度（0）
694.超声波检测仪上的衰减器精度一般用每12dB或每2dB中的误差表示（0）
695.对试样进行接触法斜角探伤时，如果入射角达到第二临界角，就会产生表面波（0）
696.换能器频率与晶片厚度有关，晶片越薄，频率越高，材料对声能的衰减越大（0）
697.在直径一定的条件下，晶片频率提高时，声束扩散角将减小，声指向性将改善（0）
698.透镜的曲率半径增大时，透镜的焦距将增大（0）
699.透镜的曲率增大，透镜的焦距将缩短（0）
700.垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将降低或消失（0）
701.在远场区，缺陷显示的振幅随传播距离的增加而按指数规律降低（0）
702.纵波折射角90°时所对应的入射角称为第一临界角（0）
703.超声波传播过程中的能量总消耗称为衰减（0）
704.当入射角选在第一临界角和第二临界角之间，在工件中传播的超声波为横波（0）
705.横波折射角90°时所对应的入射角称为第二临界角（0）
706.声波遇到异质界面时，在原介质中改变传播方向的现象叫做反射现象（0）
707.超声波从一种介质进入声速不同的另一种介质后，其传播方向发生变化的现象叫做折射现象（0）
708.超声波探伤中，晶片是由具有压电效应的压电晶体制作的（0）
709.超声波在介质中传播时，介质的密度和声波传播速度的乘积称为声阻抗（0）
710.横波主要用来检查管材和焊缝（0）
711.超声波探伤仪在单位时间内产生的脉冲数目叫做脉冲重复频率（0）
712.检验近表面缺陷最有效的方法是采用收发联合双晶探头（0）
713.在远场区，同一深度的平底孔，直径增大一倍，其回波高度提高12分贝（0）
714.在远场区，同声程的横孔直径从2毫米增大到8毫米时，其回波高度提高6分贝（0）
715.在远场区，同直径横孔声程增大一倍时，不计材质衰减，其回波高度降低9分贝（0）
716.利用CS-1和CS-2型试块可绘制直探头距离-波幅曲线和面积-波幅曲线（0）
717.CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定斜探头的分辨力（0）
718.国产斜探头多以K值标称，它等于斜探头在钢中折射角的正切值（0）
719.利用CSK-IB试块R50、R100两曲面回波按水平1:1调整扫描速度时，如探头K值为1，则R50、R100的回波前沿应分别对准水平刻度的35和70（0）
720.一个缺陷按其表现的最大长度作为该缺陷的指示长度（0）
721.超声波属机械波，可以在真空中传播(X)
722.CSK-1A试块可以用于测试纵波直探头的分辨力，不能用于测试横波斜探头的分辨力(X)
723.在超声波探伤时声束不垂直于平面缺陷时，则该缺陷表面越平滑，其缺陷反射回波就越高(X)
724.超声纵波倾斜入射到液体中时，可能产生折射纵波和折射横波(X)
725.确定脉冲在时基线上的位置时应根据脉冲的中部最高峰(X)
726.在频率和晶片尺寸一定的情况下，横波声束指向性比纵波好(0)
727.超声波探伤仪水平线性的好坏直接影响到对缺陷大小的判断(X)
728.超声横波又称压缩波或疏密波(X)
729.斜探头第一临界角的计算公式是 arc sin (0)
730.超声波检测钢板时，显示屏上无缺陷波，无底波；说明该钢板无超标缺陷(X)
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