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一. 零点调节
零点一般是通过已知声程的试块进行调节，如CSK-IA试块中的R100圆弧面(斜探头)或深100mm的大平底(直探头)。
二. K值调节
K值一般是通过对具有已知深度孔的试块来调节，如用CSK-IA试块?50或?1.5的孔。
三. 定量调节
定量调节一般采用AVG(直探头)或DAC(斜探头)。
四. 缺陷定位
超声波探伤中测定缺陷位置简称缺陷定位。
1. 纵波(直探头)定位
纵波定位较简单，如探头波束轴线不偏离，缺陷波在屏幕上位置即是缺陷至探头在垂直方向的距离。
2. 表面波定位
表面波探伤定位与纵波定位基本类似，只是缺陷位于工件表面，沧州欧谱缺陷波在屏幕上位置是缺陷至探头在水平方向的距离(此时要考虑探头前沿)。
3. 横波定位
横波斜探头探伤定位由缺陷的声程和探头的折射角或缺陷的水平和垂直方向的投影来确定。
4. 横波周向探测圆柱面时缺陷定位
周向探伤时，缺陷定位与平面探伤不同。
(1) 外圆探伤周向探测
(2) 内壁周向探测
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