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缺陷类型识别
1缺陷类型识别的一般方法
宜采用一种以上声束方向作多种扫查，包括前后、左右、转动和环绕扫查，以此对各种超声信息进行综合评定来进行缺陷类型识别。
2点状缺陷
概述
点状缺陷是指气孔和小夹渣等小缺陷，大多属体积性缺陷。
回波特征
3线性缺陷
概述
有明显的指示长度，但不易测出其断面尺寸。线性夹渣、线性未焊透或线性未熔合均属这类缺陷。这类缺陷在长度上也可能是间断的，如链状夹渣、断续未焊透和断续未熔合等。
回波特征
探头对准这类缺陷前后扫查时一般显示波形Ⅰ的特征，左右扫查则显示波形Ⅱ，或者有点象波形Ⅲa。转动和环绕扫查时，回波高度在与缺陷平面相垂直方向两侧迅速降落。只要信号不能明显断开较大距离，则表明缺陷基本连续。
若缺陷断面大致为圆柱形，只要声束垂直于缺陷的纵轴，作声轴距离修正后，回波高度变化较小。
若缺陷断面为平面状，从不同方向、用不同角度探测时，回波高度在与缺陷平面相垂直方向有明显降落。
断续的缺陷在长度方向上波高包络有明显降落，应在明显断开的位置附近作转动和环绕扫查，如观察到在垂直方向附近波高迅速降落，且无明显的二次回波，则证明缺陷是断续的。
4体积状缺陷
概述
这种缺陷有可测长度和明显断面尺寸，如不规则或球形的大夹渣。
回波特征
左右扫查一般显示动态波形Ⅱ或Ⅲa，前后扫查显示波形Ⅲa或Ⅲb。
转动扫查时，若声束垂直于缺陷纵轴，所显示的波形颇似波形Ⅲb，一般可观察到最高回波。环绕扫查时，在缺陷轴线的垂直方向两侧，回波高度有不规则的变化。
这种缺陷在方向变动较大，或更换多种声束角度时，仍能被探测到，但回波高度有不规则变化。
5平面状缺陷
概述
回波特征
左右、前后扫查时显示回波动态波形Ⅱ或Ⅲa、Ⅲb。
对表面光滑的缺陷作转动和环绕扫查时，在与缺陷平面相垂直方向的两侧，回波高度迅速降落。对表面粗糙的缺陷作转动扫查时，显示动态波形Ⅲb的特征，而作环绕扫查时，在与缺陷平面相垂直方向两侧回波高度的变化均不规则。
由于缺陷相对于波束的取向及其表面粗糙度不同，通常回波幅度变化很大。
6多重缺陷
概述
这是一群相隔距离很近的缺陷，用超声波无法单独定位、定量。如密集气孔或再热裂纹等。
回波特征
作左右、前后扫查时，由各个反射体产生的回波在时基线上出现位置不同，次序也不规则。每个单独的信号显示波形Ⅰ的特征。根据回波的不规则性，可将此类缺陷与有多个反射面的裂纹区分开来。
通过转动和环绕扫查，可大致了解密集缺陷的性质是球形还是平面型点状反射体。
从不同方向、用不同角度测出的回波高度的平均量值，若反射有明显方向性，这就表明是一群平面型点状反射体。
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