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超声波探头选用
5.2.1 压电直探头的选用如表 3 。
不管选用哪种探头，都要保证有效探测区。板厚大于 60 mm 时，若双晶片直探头性能指标能达到单晶片直探头，也可选用双晶片直探头，其检测灵敏度按照单晶片直探头的方法调节。
表 3 探头的选用
5.2.2 检测板厚不大于 60 mm 的双晶片直探头性能应符合附录 B 的要求。
5.2.3 当采用板波法进行探伤时，波型、波模及检测方法的选择应符合 GB/T 8651 的要求。
5.2.4 当采用横波探伤时，应按照附录 A 执行。
附录 B 双晶探头性能要求
B.1 距离-波幅特性曲线
a) 要检测的最大厚度的底面回波高度与最大回波高度差应在 0 dB~-6 dB 的范围内。对于与具有距离幅度补偿功能的仪器联合使用的双晶片直探头，补偿后要求检测的最大厚度的底面回波高度与最大回波高度差也应在 0 dB~-6 dB 的范围内。
b) 距离为 3 mm 处的回波高度与最大回波高度差应在 0 dB~-6 dB 的范围内。对于与具有距离幅度补偿功能的仪器联合使用的双晶片直探头，补偿后要求距离为 3 mm 处的回波高度与最大回波高度差也应在 0 dB~-6 dB 的范围内。
B.2 双晶片探头的表面泄露回波高度
直接接触法测得的双晶片探头的表面泄露回波高度必须比最大回波高度低 40 dB。
B.3 检出灵敏度（用图 B.2 试样检测）
图 B.2 试样平底孔的回波高度与最大回波高度差必须在-10 dB±2 dB 的范围内。
附录 A 钢板横波检测方法
A.2 超声波斜探头
A.2.1 探头一般选用折射角为 45°的斜探头（K1），圆晶片直径（方晶片长边）应在 12.5 mm~25 mm 之间。若选用其他尺寸和角度的探头，需经过试验评估。
A.2.2 检测频率为 2 MHz~5 MHz。
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