1)缺陷第一次反射回波(F,)波幅高于距离一波幅曲线,或用双晶探头检测板厚小于20mm板材时,缺陷第一次反射回波(F)波幅大于或等于显示屏满刻度的50%即F=50%;
(2)T≤20mm,底面第一次反射回波(B,)波幅低于显示屏满刻度的50%,即B<50%;T>20mm,底面第一次反射回波(B,)波幅低于距离一波幅曲线。
2.缺陷测定(缺陷定量)
检测中达到要求记录水平的缺陷应测定其位置、大小、并估判缺陷的性质。
3.缺陷性质识别
根据缺陷反射回波和底面反射回波的特点进行缺陷性质的判定分层:缺陷波形陡直,底面回波明显下降或完全消失
|