P系列荧光镀层测厚仪

一、产品简介

P系列提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台，可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。 精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。
标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。SDD检测器是可选的。

二、产品特点：

P系列提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。配备一个高精度可编程XY平台，相对固定平台，提供了多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。

三、应用领域

P系列可满足以下类型用户的需求:
· 小型镀件领域，如紧固件，连接器或PCB；
· 需要测试多个样品的多个位置；
· 期望在多个样品上实现自动化测量；
· 样品尺寸和应用经常变化；
· 保证符合IPC-4552A

四、配置

标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管，SDD探测器可选。

 

五、技术参数

元素测量范围	13号铝元素到92号铀元素
X射线管	50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管
探测器	190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
分析层数及元素数	5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素
滤波器/准直器	4位置一次滤波器/单规格准直器
焦距	可变焦
数字脉冲处理	4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正
计算机	英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位
相机	1 / 4“（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率
视频放大倍率	30x：标准45x：可选
电源	150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz
重量	32-50kg
马达控制/可编程XY平台	表大小：381mmx 340mm | 行程：152mmx 127mm
延伸可编程XY平台	表大小：635mmx 635mm | 行程：254mmx 254 现在可用扩展舞台选择
样品仓尺寸	高度：140mm，宽度：310mm，深度：340mm
外形尺寸	高度：450mm，宽度：450mm，深度：600mm