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表面粗糙度仪日本三丰粗糙度仪SJ-210特点介绍：低测力，应用于太阳能硅片等粗糙度的测量，硅片表面线痕的测试。大型 LCD 屏幕窗口,易于清晰读取。 使用触控式面板（具抗污性）,操作简易。 可将数据储存于记忆卡（选购品）。 任意长度设定机能。
仅按 PRINT 键即可藉由内藏式打印机打印出量测之结果（可选择不同之打印方式）。内藏 充电电池,本体携带方便也可收置检出器。拥有丰富的参数：自动校正机能、统计处理、合否判定机能、客户自行编辑设计机能判定机能。
驱动 / 检测元件 探测仪 :178-390/178-395；测头 : 金刚石；测量力 :4mN/0.75mN；探测方式 : 微感应
评定轮廓 P , R；估计参数Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,P3z,mr；数字过滤 2CR-75%,2CR-75% PC,Gaussian-50% ；截至 λC 0.25,0.8,2.5mm；波长 λS 2.5,8μm；取样长度（ L ） 0.25,0.8,2.5mm；
显示 ：彩色 LCD；打印机：外置；数据输出 通过 RS232C 接口 /SPC 输出；电源通过 AC 适配器 / 电池（可充电）；
尺寸 62×156.5×52mm；重量 0.48kg。
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