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A/B扫描高精密超声波测厚仪PVX技术特点

来源: 作者:ndt 人气: 发布时间:2024-11-14
摘要:A/B扫描高精密超声波测厚仪PVX技术文章 - 可调方波脉冲可满足高分辨率和穿透深度等方面的要求 具有多种视场选择,包括射频显示、检波、时基B-扫描和大尺寸数显 时基B-扫描显示被测材料的断面,常用于显示被测材料底面的轮廓 分辨率可调 可选配多种单晶探头,
A/B扫描高精密超声波测厚仪PVX技术文章 -
 可调方波脉冲可满足高分辨率和穿透深度等方面的要求
具有多种视场选择,包括射频显示、检波、时基B-扫描和大尺寸数显
时基B-扫描显示被测材料的断面,常用于显示被测材料底面的轮廓
分辨率可调
可选配多种单晶探头,应用于不同的用途
内置AGC硬件的增益用于多回波和穿透涂层测量
一点和两点校准方式,或从材料列表中选择声速
16个出厂设置和48个用户自定义的设置
PVX具有字母数字存储器,可满足用户报告需要
高速扫描功能每秒可测量32次。将探头从被测材料移开时,将显示扫描测量的最小值
PVX具有上下限视听报警功能
利用搜索功能定位检测点,自动调整显示传送信号进入视场
可用Windows PC软件将数据传送的计算机或从计算机传送到PVX
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